考虑可测试性的高级综合研究-猫眼课题宝

考虑可测试性的高级综合研究

批准号：

98J08598

负责人：

大竹哲史

金额：

$1.15万

依托单位：

Nara Institute of Science and Technology

依托单位国家：

日本

项目类别：

Grant-in-Aid for JSPS Fellows

财政年份：

1998

资助国家：

日本

项目状态：

已结题

起止时间：

1998 至 1999

来源：

https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-98J08598/

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Studies on instruction-level self-degradation detection mechanism and automated test program generation for processors

批准号：

23K11035
项目类别：

Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
资助金额：

$3.08万
财政年份：

2023
负责人：

大竹哲史
依托单位：

Oita University

Studies on Reliability Enhancement of Reconfigurable Integrated Circuits in the IoT Era

批准号：

18K11220
项目类别：

Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
资助金额：

$2.75万
财政年份：

2018
负责人：

大竹哲史
依托单位：

Oita University

大規模・高性能VLSIのレジスタ転送レベルにおけるテスト容易化設計に関する研究

批准号：

17700062
项目类别：

Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
资助金额：

$2.24万
财政年份：

2005
负责人：

大竹哲史
依托单位：

Nara Institute of Science and Technology

大規模・高性能VLSIの遅延故障に対するテスト容易化設計に関する研究

批准号：

12780226
项目类别：

Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
资助金额：

$1.6万
财政年份：

2000
负责人：

大竹哲史
依托单位：

Nara Institute of Science and Technology