微細磁性体配列のスピン検出走査電顕による研究

利用自旋检测扫描电子显微镜研究精细磁性材料阵列

• 批准号: 09236221
• 负责人: 溝口 正
• 金额: $ 1.34万
• 依托单位: Gakushuin University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
• 财政年份: 1997
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1997 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-09236221/
• 关键词: 微細磁性体; スピン偏極度; SXAPS; スピン偏極電子線; スピン偏極度検出器

1.Ni(110)単結晶に対して、スピン偏極電子線を用いたNi2p_<2/3>およびNi2p_<1/2>SXAPSの測定を行った。軟X線強度をパルスカウント法で計測したので、ΔE=0.13eVの高分解能のスペクトルを得ることができた。スペクトル解析により、APSスペクトルは空の状態密度だけに依存するわけではなく、内殻ホールのできる確率を考慮に入れなければいけないことがわかった。このことは特にNi2p_<1/2>スペクトルでは顕著である。2.微細磁性体配列は、通常の走査電子顕微鏡を使用し、電子線リソグラフィー技術によって作成を試みている。これまでに、レジストの加工条件を決定した。3.自作した小型スピン偏極度検出器を使用し、マグネタイト(110)単結晶表面から放出される2次電子のスピン偏極度を測定した。観測されたスピン偏極度は約10%であった。これは鉄と酸素の全価電子の平均スピン偏極度と一致する。

1. Determination of Ni (110) single crystal, Ni2p <2/3> and Ni2p <1/2>SXAPS by electron polarization. The intensity of soft X-ray is measured by the method of ΔE=0.13eV and the high resolution energy is obtained. For example, if you want to analyze the state density of the space, you should consider the accuracy of the inner shell. Ni2p_<1/2> is the most important factor in the development of the new technology. 2. The alignment of fine magnetic materials is usually investigated by using electron micromirrors and electron beam processing technology. The processing conditions of the products are determined. 3. Since the use of a small-sized semiconductor detector, the emission of second-order electrons from the crystal surface has been measured. This is about 10% of the time. The average electron density of iron and zinc is extremely uniform.