鉄酸素系垂直磁化特殊構造薄膜の磁気光学効果

铁氧垂直磁化特殊结构薄膜的磁光效应

• 批准号: 63540263
• 负责人: 溝口 正
• 金额: $ 1.28万
• 依托单位: Gakushuin University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
• 财政年份: 1988
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1988 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-63540263/
• 关键词: 垂直磁化膜; 鉄酸化物; 酸化物金属複合薄膜; 分光偏光解析装置; マクセル〜ガーネットの理論

RFスパッタ法により作製した非化学定量鉄酸素系薄膜Fe_XO_<1-X>はX>0.5の領域で強磁性を示し、しかも垂直磁化膜となる。これはFeOの母相中に微細なアモルファス状の金属Feが針状に析出し、その長手方向が膜面に垂直方向に配向しているというモデルによって説明できる。^<1)>このような酸化物金属複合垂直磁化膜に対し、光学的な測定を行いその複素反射率から複素誘電率を求めることを昭和63年度の研究目的とした。本年度の科学研究費(一般C 200万)により、可視域の小型分光器(日本分光 CTー10型)、光電子増倍管、回転パルスステージ(シグマ光機Σ401ー(3))等のコンポーネントを購入することができた。これらを、独自に設計製作した光学ゴニオ装置に組み込んで、波長400ー800nmの領域での分光偏光解析装置を完成した。この装置を設置する光学除振台も自作した。入射角の読み取りはマグネスケールを用い(1/500)°の精度で行い、その値をコンピュータに取り込む。偏光解析にはいくつかの手法があるが、我々は広い波長にわたる分光偏光解析を行う目的から、1/4波長板を用いないΔーtan〓法を採用した。ハロゲンランプ光源をでた光は偏光子によってS成分とP成分を等量含む直線偏光となって入射する。試料で反射された光は検光子、分光器を経て光電管で検出されその強度がコンピュータに取り込まれる。光源、光電管の波長依存性、及び分光器の偏光角依存性をあらかじめ計測しておき、測定結果を補正した。FeーO薄膜にたいする実験は金属相が増すに従って長波長側の吸収が増していくという結果を得た。誘電体母相中に微細金属粒が分散した系に対するマクセル〜ガーネットの理論を用い実験結果を解析した。大局的な様相はこれで説明がつく。^<2)>今後針状金属析出相の異方性をどのように解析にとりこんでいくかを考察する必要がある。1)T.Mizoguchi,N.Akutsu and M.Akimitsu;J.Appl.Phys,(1987)31582)佐藤賢治、恒川栄一、川越毅、溝口正;1989年 日本物理学会年会講演予定

Method of RF ス パ ッ タ に よ り cropping し た non quantitative iron objects acid chemical element of thin film Fe_XO_ < 1 - X > は X > 0.5 で の field strong magnetic を し, し か も perpendicular magnetization film と な る. こ れ は FeO の mother phase に imperceptible な ア モ ル フ ァ ス の metal Fe が acicular に precipitation し, そ の long hand direction が に に vertical direction at the membrane surface match to し て い る と い う モ デ ル に よ っ て illustrate で き る. ^) < 1 > こ の よ う な acidification content vertical magnetic metal composite membrane に し, optical な determination of seaborne を line い そ の complex element reflectivity か ら ask for element induced electric rate を め る こ と を showa 63 の research purpose と し た. の scientific research fee this year (2 million) C に よ り, visible range の small optical splitter spectral CT ー 10 (Japan), photoelectron rights tube, back planning パ ル ス ス テ ー ジ (シ グ マ light machine Σ ー 401 (3) such as の コ ン ポ ー ネ ン ト を buy す る こ と が で き た. こ れ ら を, alone に design し た optical ゴ ニ オ device に group み 込 ん で, 800 nm wavelength 400 ー の field で の spectral polarization analysis device を complete し た. The <s:1> <s:1> device を is set up with an する optical devibration table を to perform <s:1> た by itself. Angle of incidence の 読 み take り は マ グ ネ ス ケ ー ル を with い (1/500) ° line で い の precision and そ の numerical を コ ン ピ ュ ー タ に take り 込 む. Polarization analysis に は い く つ か の gimmick が あ る が, I 々 は hiroo い wavelength に わ た る spectral polarization analysis line を う purpose か ら, a quarter wavelength plate を い な い Δ ー tan を 〓 method using し た. ハ ロ ゲ ン ラ ン プ light を で た は partial light photons に よ っ て S composition と P composition contains を amount む linear polarization と な っ て incident す る. Sample で reflection さ れ た light は 検 photonics, optical splitter を 経 て photocell で 検 out さ れ そ の strength が コ ン ピ ュ ー タ に take り 込 ま れ る. The <s:1> wavelength dependence of the light source and phototube, as well as the <s:1> polarization Angle dependence of the び beam splitter <e:1>, are measured by をあら をあら じめ じめ and <s:1> てお, and the measurement results are corrected by を and た. Fe ー O film に た い す る be 験 は metallic phase が raised す に 従 っ て long wavelength side suction 収 の が raised し て い く と い た を う results. Induced electric mother phase に fine metal grain scattered が し た department に す seaborne る マ ク セ ル ~ ガ ー ネ ッ ト を の theory with い be 験 results を parsing し た. The な pattern of the overall situation, れで れで れで, explains が く く. ^<2)> In the future, the anisotropic property of needle-like metal precipitates is を <s:1> ように ように ように analysis にと んで く く を を investigation する is necessary がある. 1)T.Mizoguchi,N.Akutsu and M.Akimitsu; J.App L. Phys,(1987)31582) Kenji Sato, 栄 ichi Higashikawa, Takeshi Kawagoe, Masahiro Mizoguchi; The lecture for the 1989 Annual Meeting of the Physical Society of Japan has been determined