Evaluation of transport property and electronic structure using single crystals of newly discovered layered BiS2-based superconductors
Evaluation of transport property and electronic structure using single crystals of newly discovered layered BiS2-based superconductors
使用新发现的层状 BiS2 基超导体的单晶评估输运特性和电子结构
批准号：
15K17710
负责人：
demura Satoshi
金额：
$2.08万
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份：
2015
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2015-04-01 至 2017-03-31
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Change of the Surface Structure by F Doping in BiS2-Based Superconductor CeO1-xFxBiS2
BiS2基超导体CeO1-xFxBiS2中F掺杂改变表面结构
BiS2基超导体CeO1-xFxBiS2中F掺杂改变表面结构
DOI：
10.1016/j.phpro.2016.04.021
发表时间：
2016
期刊：
Physics Procedia
影响因子：
--
作者：
[S. Demura, Y. Fujisawa, T. Machida, M. Nagao, Y. Takano and H. Sakata]
通讯作者：
Y. Takano and H. Sakata
DOI：
10.1088/1742-6596/871/1/012006
发表时间：
2017-07
期刊：
Journal of Physics: Conference Series
影响因子：
--
作者：
[S. Demura;N. Ishida;Y. Fujisawa;H. Sakata]
通讯作者：
S. Demura;N. Ishida;Y. Fujisawa;H. Sakata
DOI：
10.1515/nsm-2016-0001
发表时间：
2016-01
期刊：
Novel Superconducting Materials
影响因子：
--
作者：
[S. Demura]
通讯作者：
S. Demura
Evaluation of Bi Defects in BiS2-based superconductors by Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy
通过扫描隧道显微镜和光谱法评估 BiS2 基超导体中的 Bi 缺陷
通过扫描隧道显微镜和光谱法评估 BiS2 基超导体中的 Bi 缺陷
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
作者：
[S. Demura, N. Ishida, Y. Fujisawa and H. Sakata]
通讯作者：
Y. Fujisawa and H. Sakata
LaO1-xFxBiCh2(Ch=S, Se)の走査トンネル顕微鏡/分光測定
LaO1-xFxBiCh2 (Ch=S, Se) 的扫描隧道显微镜/光谱测量
LaO1-xFxBiCh2 (Ch=S, Se) 的扫描隧道显微镜/光谱测量
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
作者：
[出村郷志, 藤澤唯太, 石田直樹, 冨安悠人, 坂井優斗, 小野寺崇文, 坂田英明]
通讯作者：
坂田英明
共 12 条