Evaluation of transport property and electronic structure using single crystals of newly discovered layered BiS2-based superconductors

使用新发现的层状 BiS2 基超导体的单晶评估输运特性和电子结构

• 批准号: 15K17710
• 负责人: demura Satoshi
• 金额: $ 2.08万
• 依托单位: Tokyo University of Science
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
• 财政年份: 2015
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2015-04-01 至 2017-03-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-15K17710/
• 关键词: 超伝導; BiS2系超伝導体; 輸送特性評価; STM測定; 元素置換効果; BiS2系超伝導; 単結晶育成; STM

项目成果

Change of the Surface Structure by F Doping in BiS2-Based Superconductor CeO1-xFxBiS2

BiS2基超导体CeO1-xFxBiS2中F掺杂改变表面结构

• DOI: 10.1016/j.phpro.2016.04.021
• 发表时间: 2016
• 期刊: Physics Procedia
• 作者: S. Demura;Y. Fujisawa;T. Machida;M. Nagao;Y. Takano and H. Sakata
• 通讯作者: Y. Takano and H. Sakata

Evaluation of Bi defect concentration in LnO1-xFxBiCh2 by scanning tunneling microscopy

• DOI: 10.1088/1742-6596/871/1/012006
• 发表时间: 2017-07
• 期刊: Journal of Physics: Conference Series
• 作者: S. Demura;N. Ishida;Y. Fujisawa;H. Sakata

Evolution of superconductivity and magnetism in BiS2-based layered compounds

• DOI: 10.1515/nsm-2016-0001
• 发表时间: 2016-01
• 期刊: Novel Superconducting Materials
• 作者: S. Demura

Evaluation of Bi Defects in BiS2-based superconductors by Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy

通过扫描隧道显微镜和光谱法评估 BiS2 基超导体中的 Bi 缺陷

• 发表时间: 2016
• 作者: S. Demura;N. Ishida;Y. Fujisawa and H. Sakata
• 通讯作者: Y. Fujisawa and H. Sakata

LaO1-xFxBiCh2(Ch=S, Se)の走査トンネル顕微鏡/分光測定

LaO1-xFxBiCh2 (Ch=S, Se) 的扫描隧道显微镜/光谱测量

• 发表时间: 2016
• 作者: 出村郷志;藤澤唯太;石田直樹;冨安悠人;坂井優斗;小野寺崇文;坂田英明
• 通讯作者: 坂田英明