A digital temperature and voltage sensor with high-speed and small area

一种高速小面积数字温度电压传感器

基本信息

  • 批准号：
    17K12660
  • 负责人：
    MIYAKE Yousuke
  • 金额：
    $ 2.66万
  • 依托单位：
    Kyushu Institute of Technology
  • 依托单位国家：
    日本
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
  • 财政年份：
    2017
  • 资助国家：
    日本
  • 起止时间：
    2017-04-01 至 2019-03-31
  • 项目状态：
    已结题

项目摘要

项目成果

期刊论文数量（10）
专著数量（0）
科研奖励数量（0）
会议论文数量（0）
专利数量（0）
FPGAの自己テストのためのTDCを用いたテストクロック観測手法の検討
利用TDC进行FPGA自测试的测试时钟观测方法研究
  • DOI：
  • 发表时间：
    2017
  • 期刊：
  • 影响因子：
    0
  • 作者：
    S. Wang;Y. Sato;S. Kajihara;H. Takahashi;西見 武，梶原 誠司，中村 芳行;井上賢二，三宅庸資，梶原誠司;木村浩隆,　梶原誠司,　佐藤康夫,　中村芳行;三宅庸資,佐藤康夫,梶原誠司
  • 通讯作者：
    三宅庸資,佐藤康夫,梶原誠司
FPGAにおける自己補正可能なオンチップデジタル温度センサ
FPGA 中的自校正片上数字温度传感器
  • DOI：
  • 发表时间：
    2018
  • 期刊：
  • 影响因子：
    0
  • 作者：
    三宅庸資;梶原誠司
  • 通讯作者：
    梶原誠司
On-Chip Delay Measurement for In-field Periodic Test of FPGAs
用于 FPGA 现场定期测试的片上延迟测量
  • DOI：
  • 发表时间：
    2018
  • 期刊：
  • 影响因子：
    0
  • 作者：
    Yousuke Miyake;Yasuo Sato;Seiji Kajihara
  • 通讯作者：
    Seiji Kajihara
FPGAにおける周期的なフィールドテストのためのオンチップ遅延測定
用于 FPGA 定期现场测试的片上延迟测量
  • DOI：
  • 发表时间：
    2018
  • 期刊：
  • 影响因子：
    0
  • 作者：
    三宅庸資;佐藤康夫;梶原誠司
  • 通讯作者：
    梶原誠司
FPGAにおけるオンチップ可変テストクロック生成器の検討
FPGA片上可变测试时钟发生器的研究
  • DOI：
  • 发表时间：
    2019
  • 期刊：
  • 影响因子：
    0
  • 作者：
    古川大悟;三宅庸資;梶原誠司;Poki Chen
  • 通讯作者：
    Poki Chen
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