A digital temperature and voltage sensor with high-speed and small area
A digital temperature and voltage sensor with high-speed and small area
一种高速小面积数字温度电压传感器
批准号：
17K12660
负责人：
MIYAKE Yousuke
金额：
$2.66万
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份：
2017
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2017-04-01 至 2019-03-31
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FPGAの自己テストのためのTDCを用いたテストクロック観測手法の検討
利用TDC进行FPGA自测试的测试时钟观测方法研究
利用TDC进行FPGA自测试的测试时钟观测方法研究
DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
作者：
[S. Wang, Y. Sato, S. Kajihara, H. Takahashi, 西見 武，梶原 誠司，中村 芳行, 井上賢二，三宅庸資，梶原誠司, 木村浩隆, 梶原誠司, 佐藤康夫, 中村芳行, 三宅庸資,佐藤康夫,梶原誠司]
通讯作者：
三宅庸資,佐藤康夫,梶原誠司
FPGAにおける自己補正可能なオンチップデジタル温度センサ
FPGA 中的自校正片上数字温度传感器
FPGA 中的自校正片上数字温度传感器
DOI：
--
发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
作者：
[三宅庸資, 梶原誠司]
通讯作者：
梶原誠司
On-Chip Delay Measurement for In-field Periodic Test of FPGAs
用于 FPGA 现场定期测试的片上延迟测量
用于 FPGA 现场定期测试的片上延迟测量
DOI：
--
发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Yousuke Miyake, Yasuo Sato, Seiji Kajihara]
通讯作者：
Seiji Kajihara
FPGAにおける周期的なフィールドテストのためのオンチップ遅延測定
用于 FPGA 定期现场测试的片上延迟测量
用于 FPGA 定期现场测试的片上延迟测量
DOI：
--
发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
作者：
[三宅庸資, 佐藤康夫, 梶原誠司]
通讯作者：
梶原誠司
FPGAにおけるオンチップ可変テストクロック生成器の検討
FPGA片上可变测试时钟发生器的研究
FPGA片上可变测试时钟发生器的研究
DOI：
--
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
--
作者：
[古川大悟, 三宅庸資, 梶原誠司, Poki Chen]
通讯作者：
Poki Chen
共 10 条