A digital temperature and voltage sensor with high-speed and small area

一种高速小面积数字温度电压传感器

• 批准号: 17K12660
• 负责人: MIYAKE Yousuke
• 金额: $ 2.66万
• 依托单位: Kyushu Institute of Technology
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
• 财政年份: 2017
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2017-04-01 至 2019-03-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-17K12660/
• 关键词: 温度センサ; 電圧センサ; デジタルセンサ; リングオシレータ; LSIテスト; フィールドテスト; VLSI設計技術; ディペンダブル・コンピューティング; FPGA; 計算機システム; システムオンチップ; 情報工学

项目成果

FPGAの自己テストのためのTDCを用いたテストクロック観測手法の検討

利用TDC进行FPGA自测试的测试时钟观测方法研究

• 发表时间: 2017
• 作者: S. Wang;Y. Sato;S. Kajihara;H. Takahashi;西見 武，梶原 誠司，中村 芳行;井上賢二，三宅庸資，梶原誠司;木村浩隆, 梶原誠司, 佐藤康夫, 中村芳行;三宅庸資,佐藤康夫,梶原誠司
• 通讯作者: 三宅庸資,佐藤康夫,梶原誠司

FPGAにおける自己補正可能なオンチップデジタル温度センサ

FPGA 中的自校正片上数字温度传感器

• 发表时间: 2018
• 作者: 三宅庸資;梶原誠司
• 通讯作者: 梶原誠司

On-Chip Delay Measurement for In-field Periodic Test of FPGAs

用于 FPGA 现场定期测试的片上延迟测量

• 发表时间: 2018
• 作者: Yousuke Miyake;Yasuo Sato;Seiji Kajihara
• 通讯作者: Seiji Kajihara

FPGAにおける周期的なフィールドテストのためのオンチップ遅延測定

用于 FPGA 定期现场测试的片上延迟测量

• 发表时间: 2018
• 作者: 三宅庸資;佐藤康夫;梶原誠司
• 通讯作者: 梶原誠司

FPGAにおけるオンチップ可変テストクロック生成器の検討

FPGA片上可变测试时钟发生器的研究

• 发表时间: 2019
• 作者: 古川大悟;三宅庸資;梶原誠司;Poki Chen
• 通讯作者: Poki Chen