Untersuchung von Zelladhäsionsphänomenen mittels optischer Oberflächenwellen

使用光学表面波研究细胞粘附现象

• 批准号: 5175116
• 负责人: Professor Dr. Martin Bastmeyer
• 金额: --
• 依托单位: Arbeitsgruppe Theorie der weichen Materie
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Research Units
• 财政年份: 1995
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 1994-12-31 至 2001-12-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/5175116?language=en
• 关键词: Untersuchung; von; Zelladh; sionsph; nomenen

Wir untersuchen mittels optischer Oberflächenwellen die Wechselwirkungen einer Zelle mit Substratmolekülen in ihrer Umgebung. In der vergangenen Antragsperiode konnten wir durch eine Weiterentwicklung der Oberflächenplasmonen-Mikroskopie die Abstände zwischen einer Zelle und ihrem Wachstumssubstrat quantitativ bestimmen; während die Zellmembran in den meisten Regionen der Zelle 160 nm vom Substrat entfernt ist, formen periphere Lamellopodien 'close contacts' mit 25 nm Abstand. Parallel zu diesen Untersuchungen wurde mit der Wellenleiter-Mikroskopie ein Verfahren entwickelt, mit dem biologisch relevante Kräfte visualisiert und quantifiziert werden können. Mit diesem Verfahren konnten wir erstmalig die Penetrationskräfte von pflanzenpathogenen Pilzen messen. Künftig wollen wir die Herstellung der Schichtwellenleiter so modifizieren und standardisieren, daß auch Kräfte gemessen werden können, die sich bewegende Zellen auf das Substrat ausüben. Parallel zu diesen Untersuchungen soll das Mikroskopieverfahren auf einen Scanning-Modus umgebaut werden, um die Abbildungsqualität und somit auch die Präzision der Quantifizierung wesentlich zu steigern.

Wir untersuchen mittelels optischer Oberflächenwellen die wehselwirkungen einer Zelle mit substratmolekeklen in ihrer Umgebung。在der vergangenen Antragsperiode kontenwir duritentwicklung der Oberflächenplasmonen-Mikroskopie die Abstände zwischen einer Zelle和ihrem wachstums基片定量估计；während die Zellmembran in den meisten Regionen der Zelle距离底物入口点160 nm，前外围片状足部“密切接触”距离25 nm。平行研究：生物学相关Kräfte可视化与量化研究können。Mit diesem Verfahren konnten wir erstmalig die Penetrationskräfte von pflanzenpathogenen Pilzen messen。knftig wollen wir die Herstellung der Schichtwellenleiter so modifizien und standardisien, dasß auch Kräfte gemessen werden können, die sich bewegende Zellen auf das substrate aus<s:1>。平行的扫描模态（Untersuchungen），扫描模态（Untersuchungen），扫描模态（untersche - mode），扫描模态（untersche - mode），扫描模态（untersche - mode），扫描模态（untersche - mode），扫描模态（untersche - mode），扫描模态（untersche - mode），扫描模态（untersche - mode）。