specific chemical bond breaking on polymers by gas cluster ion beam and its application to surface analysis

气体团簇离子束对聚合物的特定化学键断裂及其在表面分析中的应用

• 批准号: 26810077
• 负责人: Moritani Kousuke
• 金额: $ 2.58万
• 依托单位: University of Hyogo
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
• 财政年份: 2014
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2014-04-01 至 2017-03-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-26810077/
• 关键词: 質量分析; 表面科学; 多変量解析; 表面分析; SIMS; Arクラスター; GCIB; 主成分分析; クラスターイオンビーム

项目成果

Sputtered Ion Emission and Hydrogen-exchange Reactions under Hydrogen-bonded Cluster Ions, Shogo Nagata,

氢键簇离子下的溅射离子发射和氢交换反应，Shogo Nagata，

• 发表时间: 2015
• 作者: Shogo Nagata;Y. Higashihara;K. Moritani;N. Inui;K. Mochiji
• 通讯作者: K. Mochiji

Secondary ion emission from amino acid thin film bombarded by water and methanol cluster ions

水和甲醇簇离子轰击氨基酸薄膜的二次离子发射

• 发表时间: 2015
• 作者: S. Nagata;Y. Higashihara;K. Moritani;N. Inui;K. Mochiji
• 通讯作者: K. Mochiji

Mass spectrometric analysis of the dissociative scattering of argon cluster ions from solid surfaces

氩簇离子从固体表面的解离散射的质谱分析

• 发表时间: 2016
• 作者: K. Moritani;N. Inui;K. Mochiji
• 通讯作者: K. Mochiji

巨大クラスターイオンビームの生成と 二次イオン質量分析(SIMS)への応用

巨簇离子束的产生及其在二次离子质谱（SIMS）中的应用

• 发表时间: 2016
• 作者: K. Moritani;N. Inui;K. Mochiji;盛谷浩右
• 通讯作者: 盛谷浩右

Application of several kinds of large cluster ion beams to TOF-SIMS

几种大团簇离子束在TOF-SIMS中的应用

• 发表时间: 2016
• 作者: K. Moritani;N. Inui;K. Mochiji
• 通讯作者: K. Mochiji