表面衝突によるイオンの励起と散乱の研究

表面碰撞离子激发和散射的研究

基本信息

  • 批准号:
    60120005
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 15.87万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Special Project Research
  • 财政年份:
    1985
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    1985 至 无数据
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

本研究では、イオンと固体表面の相互作用について、高速イオン(〜MeV)に関しては万波、福沢が、低速イオン(【<!〜】keV)では塙が研究を分担、また、理論は大槻が担当している。得られた成果は以下の通りである。1.装置製作:清淨固体表面をうるため、超高真空装置の製作・改良を行い設備の充実を計った。これら装置を用いて清淨表面作製法として、(【i】)超高真空中でのその場エピタキシアル成長によるSnTe単結晶の作製、(【ii】)アルゴンガス放電スパタリングによる金属表面清淨化の方法を確立した。散乱イオンの非弾性エネルギー損測定用にはイオンアナライザーの精密回転機構を試作した。2.成果:MeV【He^+】ガスパタリング清淨面で散乱されたときの荷電分布は、表面汚染と共に変化することを確認した。一方、単結晶SnTe表面に30分以下の小角で入射したMeV【He^+】、【H^+】が表面最外原子列のみと相互作用し鏡面反射させることに成功し、この時のイオンの荷電分布は薄膜透過時と異ることを示した。また、水素分子イオン【H(^+_2)】が表面で小角散乱により解離する過程を調べ、衝突により生じた陽子対が固体表面にほぼ平行になって散乱されることを示した。さらに、鏡面反射したMeV【H^+】のエネルギー損失を測定することに成功し、そのエネルギー、入射角依存を明らかにした。低速イオンについては、Pb,Si表面で散乱された【He^+】の非弾性散乱の測定を行い異常エネルギー損失を求めた。理論的研究では、固体表面におけるオージェ中性化過程を各種近似法を用いて検討し、有用な一般公式の根掾を明らかにした。また、イオンのディチャネリング過程における核衝突の寄与のより正確な評価を行った。
This study で は, イ オ ン と solid surface の interaction に つ い て, high-speed イ オ ン (MeV) ~ に masato し て は Wan Bo, fu ohsawa が, low-speed イ オ ン ([<! ~ 】 keV) で は 塙 が research を share, ま た, big theory は 槻 が bear し て い る. The following is a られた result である. 1. Device fabrication: Fabrication of clean solid surface をうるため, ultra-high vacuum device <s:1>, improvement of を line <s:1> equipment <e:1> and simulation を meter った. を こ れ ら device with い て clean surface method for と し て, ([I]) in ultra high vacuum で の そ の field エ ピ タ キ シ ア ル growth に よ る SnTe の 単 crystallization system, ([ii]) ア ル ゴ ン ガ ス discharge ス パ タ リ ン グ に よ る metal surface clean purification の way を establish し た. For the determination of the non-elasticity of the scattered <s:1> <s:1> <s:1> <s:1> ギ ギ ギ ギ <s:1> loss, the に <s:1> <s:1> アナラ アナラ ザ ザ ザ を <s:1> precision return 転 mechanism を is used to test the た. 2. Results: MeV ガ He ^ + 】 【 ス パ タ リ ン グ clean surface で scattered さ れ た と き は の charged distribution, surface pollution と に variations change す る こ と を confirm し た. Party, 単 crystallization に SnTe surface under 30 points の small Angle で incident し た MeV [He ^ +], [H ^ +] が surface outside the atomic columns の み と interaction し mirror さ せ る こ と に successful し, こ の when の イ オ ン の と when charged distribution は film through different る こ と を shown し た. ま た, water molecule イ オ ン が surface H (^ + _2) 】 【 で small Angle scattered に よ り dissociation す る を べ, conflicts に よ り raw じ た yoko が seaborne solid surface に ほ ぼ parallel に な っ て scattered さ れ る こ と を shown し た. さ ら に, specular reflection し た MeV の H ^ + 】 【 エ ネ ル ギ を ー loss determination す る こ と に successful し, そ の エ ネ ル ギ ー, incidence Angle dependent を Ming ら か に し た. Low-speed イ オ ン に つ い て は, Pb, Si surface で scattered さ れ た の He ^ + 】 【 non 弾 scattered の determination を い abnormal エ ネ ル ギ を ー loss o め た. Research of the theory of で は, solid surface に お け る オ ー ジ を ェ neutralization process various approximation を with い て beg し 検, useful な general formula の root we を Ming ら か に し た. Youdaoplaceholder0, <s:1> <s:1> ディチャネリ ディチャネリ ディチャネリ グ グ process における nuclear conflict <e:1> sent to よ よ <s:1> correct な evaluation 価を conduct った.

项目成果

期刊论文数量(4)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Surface Science. 163. (1985)
表面科学。
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
JAPANESE Journal of Applied Physics. 24. (1985)
日本应用物理学杂志。
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
Surface Science. 166-2. (1986)
表面科学。
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
Nacl.Instruments & Method B.in press. (1986)
Nacl. 仪器和方法 B. 出版中 (1986)
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
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  • 作者:
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