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Berechnung von Hyperfeinwechselwirkungen tiefer paramagnetischer Defekte in Halbleitern mit der Methode Generalisierter Gradienten

Berechnung von Hyperfeinwechselwirkungen tiefer paramagnetischer Defekte in Halbleitern mit der Methode Generalisierter Gradienten
使用广义梯度法计算半导体深层顺磁缺陷的超精细相互作用
批准号:
5210192
负责人:
Professor Dr. Harald Overhof (†)
金额:
$0.0万
依托单位:
依托单位国家:
德国
项目类别:
Research Grants
财政年份:
1999
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
1998-12-31 至 2001-12-31

项目摘要

项目成果

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中文摘要
翻译
Der Vergleich berechneter Hyperfeinwechselenkungen mit experimentellen Daten liefert wichtige Beiträge zur Aufklärung der elektronischen Struktur tiefer paramagnetischer Defekte in Halbleitern. Bisherige Berechnungen sind für einige Defektsysteme(3d Übergangsmetalle,5p-artige Defekte)aber nicht genau obligg,um den Einbauplatz in jedem Falle eindeutig indentifizieren zu können.我们将通过Generalisierten Gradienten erweitern的方法对超Feinwechselwirkungen和Defekte的磁核进行Verbesserung,以实现Lokale Spin-Dichte Näherung。在对称性松弛的情况下,可以通过使用下一个磁场核来解决超磁场松弛问题,该磁场核可以用于韦尔登的诊断。研究需要一个时间段,因为顺磁性材料的磁性缺陷理论可以被韦尔登所证实。Zum anderen sie sollen zur Identifikation der vielen technologisch interestant Defekte beitragen,für deren experimentelle Hyperfeindaten mit bisherigen Methoden eine atomistische Struktur nicht eindeutig bestimmt韦尔登kann.
英文摘要
Der Vergleich berechneter Hyperfeinwechselwirkungen mit experimentellen Daten liefert wichtige Beiträge zur Aufklärung der elektronischen Struktur tiefer paramagnetischer Defekte in Halbleitern. Bisherige Berechnungen sind für einige Defektsysteme (3d Übergangsmetalle, 5p-artige Defekte) aber nicht genau genug, um den Einbauplatz in jedem Falle eindeutig indentifizieren zu können. Als wesentliche Verbesserung der Berechnung von Hyperfeinwechselwirkungen mit den magnetischen Kernen der Defekte wollen wir die Lokale Spin-Dichte Näherung durch die Methode der Generalisierten Gradienten erweitern. Durch die Berücksichtigung von symmetrie-erhaltenden Gitterrelaxationen sollen zudem die Hyperfeinwechselwirkungen mit den magnetischen Kernen der nächsten Nachbarn der Defekte entscheidend verbessert werden. Die Rechnungen sollen zum einen zeigen, wieweit die Magnetisierungsdichte tiefer paramagnetischer Defekte theoretisch verstanden werden kann. Zum anderen sollen sie zur Identifikation der vielen technologisch interessanten Defekte beitragen, für deren experimentelle Hyperfeindaten mit bisherigen Methoden eine atomistische Struktur nicht eindeutig bestimmt werden kann.
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