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Einfluß der Mikrostruktur auf die Hochfrequenzeigenschaften von ferroelektrischer Bulk-Keramik und Dünnschichten

Einfluß der Mikrostruktur auf die Hochfrequenzeigenschaften von ferroelektrischer Bulk-Keramik und Dünnschichten
微观结构对铁电体陶瓷和薄膜高频性能的影响
批准号:
5215642
负责人:
Dr.-Ing. Ulrich Böttger
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Research Grants
财政年份:
1999
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
1998-12-31 至 2001-12-31

项目摘要

项目成果

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中文摘要
翻译
in Rahmen des beantragten Projektes sollen die dielektrischen Hochfrequenzeigenschaften von ferroelektrischen dnnschichten和Keramiken,他的频率为25 GHz在einem温度为77 K和450 K在Abhängigkeit von der microstruktur untersucht werden。[1] [Neben dem physikalischen Verständnis . der solchen hoch-e-Materialien and dabei die] Einsatzmöglichkeiten . HF-Bauelementen von Interesse。]Durch Variation der prozesparameter werden aus den gleichen Ausgangsmaterialien ferroelektrische Proben mit identischer Stöchiometrie aber unterschedlicher microstruktuer Korngröße, Domänenstruktur and Gitterkonstanten präpariert。Die Herstellung erfolgt f<s:1> r dnne Schichten mit Korndurchmessern von 20 nm和200 nm via Chemical Solution Deposition and r Keramiken mit Korndurchmessern von 0,2µm和2µm via Sol Gel-Routen。[4]中国科学院<s:1>风力发电信息系统<e:1>,中国科学院材料研究中心,德国电磁特性与电磁特性研究中心,德国电磁特性与电磁特性研究中心vervollständigt。
英文摘要
Im Rahmen des beantragten Projektes sollen die dielektrischen Hochfrequenzeigenschaften von ferroelektrischen Dünnschichten und Keramiken bis zu Frequenzen von 25 GHz in einem Temperaturbereich von 77 K bis 450 K in Abhängigkeit von der Mikrostruktur untersucht werden. Neben dem physikalischen Verständnis der Polarisationsmechanismen in solchen hoch-e-Materialien sind dabei die Einsatzmöglichkeiten in HF-Bauelementen von Interesse. Durch Variation der Prozessparameter werden aus den gleichen Ausgangsmaterialien ferroelektrische Proben mit identischer Stöchiometrie aber unterschiedlicher Mikrostruktur wie Korngröße, Domänenstruktur und Gitterkonstanten präpariert. Die Herstellung erfolgt für dünne Schichten mit Korndurchmessern von 20 nm bis 200 nm via Chemical Solution Deposition und für Keramiken mit Korndurchmessern von 0,2µm und 2µm via Sol Gel-Routen. Darüber hinaus wird die Information über diese Materialien durch begleitende elektrische Charakterisierungen wie Impedanzspektroskopie, Hysterese und Resonanzmessungen vervollständigt.
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海外基金
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  • 批准号:
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  • 资助金额:
    --
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    2021
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  • 批准年份:
    2020
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  • 依托单位: