シンクロトロン放射光トポグラフィによる格子欠陥の構造と挙動に関する研究計画立案
利用同步辐射地形图研究晶格缺陷的结构和行为
基本信息
- 批准号:02352006
- 负责人:
- 金额:$ 0.7万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Co-operative Research (B)
- 财政年份:1990
- 资助国家:日本
- 起止时间:1990 至 无数据
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
本総合研究は,格子欠陥研究の強力な研究手段として期待されているシンクロトロン放射光トポグラフィを有効に活用するために,広範な格子欠陥研究者とX線回折研究者による共同研究体制と共同研究課題を検討することを目的として行われた。まず,今まで個別に行われてきた研究の総括を通じて,格子欠陥研究におけるシンクロトロン放射光トポグラフィの有用性と間題点を明らかにした(平成2年9月東京,19名出席)。つづいて,この格討結果を踏まえて,次世代の大型放射光源を利用するX線トポグラフィはいかにあるべきか,という観点から以下の4つの検討課題毎に検討を進めた。(1)高分解能リアルタイム・トポグラフィ:従前の方法では完全性の高い結晶にしか適用できないが,分解能を向上させれば,その適用範囲は大幅に広がる。次世代の高輝度X線源とウィ-クビ-ム法によって,これが可能であるとの結論に達した。(2)精密X線光学系トポグラフィ:次世代の高輝度X線源の利用によって,平面波トポグラフィを汎用技術として使えるようになるばかりでなく,さらに精密な回折実験,微小欠陥の解析が可能になる。(3)散乱ラジオグラフィ:結晶評価を一般化するために散乱ラジオグラフィは大いに期待される手法であり,次世代光源の利用によって,これが極めて短時間に,高分解能で可能であるとの見通しを得た。(4)高エネルギ-X線トポグラフィ:次用代光源の高エネルギ-X線の利用は,トポグラフ研究に新たな側面を拓くが,同時にバックグランドの除去という難問があり,なお検討の必要がある。これらの検討課題および個別研究課題の発表討論会を平成3年1月つくば市において30名の参加者を得て開催された。一連の活動については,研究報告書としてまとめた。
Comprehensive research on this subject, powerful research methods for lattice research, and effective and efficient use of research methods. It is a joint research system and a joint research project between researchers and X-ray deflection researchers, and the purpose of the research is the same.まず, Today's individual に行 われてきた Research の総ukuo を通 じて, lattice lacks 陥 Research におけるシンクロトロンradiation light トポグラフィの Usefulness and Sense of Matter を明らかにした (Tokyo, September 2009, 19 people attended). The next-generation large-scale radioactive light source usingフィはいかにあるべきか, という観点から下の4つの検 Discussion 毎に検 Discussion を入めた. (1) High decomposition energy リアルタイム・トポグラフィ: The method before and the complete high crystal The にしか is suitable for できないが, the decomposition energy is を upward させれば, and the その is applicable for the wide range of に広がる. The next-generation high-intensity X-ray source is a high-intensity X-ray source. (2) Precision X-ray optics system: Next-generation high-intensity We use technology to make precise and accurate analysis and analysis possible. (3) Scattered ラジオグラフィ: Crystal evaluation 価をgeneralized するために scattered ラジオグラフィは大いにLooking forward to される techniqueであり, the utilization of next-generation light source, によって, これが极めて, high resolution energy is possible in a short time, であるとの见通しを得た. (4) High-Technology-X-Ray Technology: Research on the Utilization of High-Technology-X-Ray Technology for Secondary Substitute Light Sourcesに新たなlateral を图くが, and にバックグランドのremoval of という倌あり, なお検検のrequisite がある. The これらの検および individual research project の発symposium was held in つくば City in January 2006, and 30 participants were invited to attend. Continuous activities, research report, research report.
项目成果
期刊论文数量(6)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Y.Chikaura and M.Imai: "Morphology of microdefects in asーgrown thinned silicon crystals observed by synchrotron Xーradiation planeーwave topography" Jpn.J.Appl.Phys.29. 221-225 (1990)
Y.Chikaura 和 M.Imai:“通过同步加速器 X 辐射平面波形貌观察生长的薄硅晶体中微缺陷的形态”Jpn.J.Appl.Phys.221-225 (1990)。
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- 发表时间:
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
- 通讯作者:
T.Hondoh,R.Hoshi,A.Goto and H.Yamagami: "A new method using synchrotronーradiation topography for determining pointーdefect diffusivity under hydrostatic pressure" Philosophical Magazine Letters. 63. 1-5 (1991)
T.Hondoh、R.Hoshi、A.Goto 和 H.Yamagami:“使用同步辐射地形学确定静水压力下点缺陷扩散率的新方法”《哲学杂志快报》63. 1-5 (1991)。
- DOI:
- 发表时间:
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
- 通讯作者:
K.Izumi,M.Kondo,M.Matsushita and A.Ishizawa: "Lattice defects in diacetylene single crystals" Defect Control in Semiconductors. 1653-1658 (1990)
K.Izumi、M.Kondo、M.Matsushita 和 A.Ishizawa:“丁二炔单晶中的晶格缺陷”半导体中的缺陷控制。
- DOI:
- 发表时间:
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
- 通讯作者:
T.Fukumori and K.Futagami: "An Xーray monochromator system using successive reflection and its application to measurements of diffraction curves of annealed GaAs wafers" J.Applied Crystallography. 22. 334-339 (1989)
T.Fukumori 和 K.Futagami:“使用连续反射的 X 射线单色仪系统及其在退火 GaAs 晶片衍射曲线测量中的应用”J.Applied Crystallography 22. 334-339 (1989)。
- DOI:
- 发表时间:
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
- 通讯作者:
H.Sugiyama and O.Nittono: "Annealing Effects on Lattice Distortion in Anodized Porous Silicon Layers" Jpn.J.Appl.Phys.28. L2013-2016 (1989)
H.Sugiyama 和 O.Nittano:“退火对阳极氧化多孔硅层晶格畸变的影响”Jpn.J.Appl.Phys.28。
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