Orientierungsabbildende Mikroskopie (EBSD) an nicht-leitenden Keramiken

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Ziel dieses Vorhabens ist es, eine Beschichtungsstrategie zu entwickeln, die automatische Langzeit-Einzelorientierungsmessungen an Kristalliten in nicht leitenden Materialien erlaubt. Dazu sollen verschiedene Ansätze getestet, die Schichten charakterisiert und die optimalen Prozeßführungsparameter ermittelt werden. Die Arbeiten werden an drei Materialsystemen - BaTiO3, Al2O3 und Si3N4 - durchgeführt. Auswahlkriterien waren u. a. die unterschiedliche elektrische Leitfähigkeit und Kristallsymmetrie. Außerdem sollen die Orientierungsmessungen bei jedem dieser Systeme interessante materialkundliche Aspekte beleuchten. Bei Si3N4 und Al2O3 sind die Mikrotexturen und die morphologischen Zusammenhänge für die mechanischen Eigenschaften interessant. Außerdem weisen diese Materialien stäbchen- bzw. plättchenförmige Kristallite auf. EBSD-Messungen würden einerseits eine Erweiterung von statistischen Verfahren zur Bestimmung der räumlichen Kristallit-Größen-Form-Verteilung auch auf texturierte Proben ermöglichen und andererseits die Genauigkeit im nicht texturierten Fall erhöhen. Bei BaTiO3 beeinflußt die Orientierung der Kristallite die elektrischen Eigenschaften.