Orientation imaging microscopy (EBSD) for nonconducting ceramics

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Ziel dieses Vorhabens ist es, eine Beschichtungsstrategie zu entwickeln, die automatische Langzeit-Einzelorientierungsmessungen an Kristallen in nicht leitenden Matererialien erlaubt. Dazu sollen verschiedene Ansätze getestet, die Schichten charakterisiert und die optimalen Prozeßführungsparameter ermittelt werden. Die Arbeiten werden an 3 Materialsystemen - Bariumtitanat, Aluminiumoxid, Trisiliziumtetranitrid - durchgeführt. Auswahlkriterien waren u.a. die unterschiedliche elektrische Leitfähigkeit und Kristallsymmetrie. Außerdem sollen die Orientierungsmessungen bei jedem dieser Systeme interessante materialkundliche Aspekte beleuchten. Bei Trisiliziumtetranitrid und Aluminiumoxid sind die Mikrotexturen und die morphologischen Zusammenhänge für die mechanischen Eigenschaften interessant. Außerdem weisen diese Materialien stäbchen- bzw. plättchenförmige Kristalle auf. EBSD-Messungen würden einerseits eine Erweiterung von statistischen Verfahren zur Bestimmung der räumlichen Kristallit-Größen-Form-Verteilung auch auf texturierten Proben ermöglichen und andererseits die Genauigkeit im nicht texturierten Fall erhöhen. Bei Bariumtitanat beeinflußt die Orientierung der Kristallite die elektrischen Eigenschaften.