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新型斜入射式イオン計測器アレイによる開放磁場端損失イオンの空間分布構造とその影響

新型斜入射离子测量仪阵列开放磁场边缘损耗离子空间分布结构及其影响

基本信息

批准号：
06780385
负责人：
近藤真史
金额：
$ 0.64万
依托单位：
University of Tsukuba
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
财政年份：
1994
资助国家：
日本
起止时间：
1994 至无数据
项目状态：
已结题

项目摘要

本研究では、1.厳密なプラズマ粒子計測法として我々が新しく考案した、斜入射型新型イオン計測器を試作・開発する、殊にプラズマの空間分布計測のための同計測器をアレイ化する事、2.得られたデータをもとに、プラズマの空間的対称性のプラズマ閉じ込めに与える影響を研究する事を目的としている。即ち、今まで計測器の制限から、プラズマ中心部の研究が主だった事に対し、プラズマの半径端部領域、並びにプラズマの対称性の効果、電位のプラズマ閉じ込めへの影響を含めて、実験的に計測を行い、開放端系の特徴である端損失粒子の詳細な研究を行う事が目的である。本年度は、1.アレイ化の予備実験を踏まえ、測定を検討、改良し、アレイ用斜入射型イオン計測器の試作器を設計・製作した。これにより、従来よりもコンパクトで、更に電子の影響がなく、S/N比のよいイオン計算が行えるようになった。2.この計測器を実験にガンマ10装置エンドプレート後方に設置し、温度数keVのプラグ部生成高温電子を完全に分離して、高い精度でイオン計算を行った。3.上記実験データの収集のため、AD変換ボードを購入し、データ整理のためのプログラムの開発を行っている。今後の方針としては、不正電場、及び検出器の設置位置による測定誤差を軽減するための計測器の改良・設計を行い、実際に「新型斜入射式イオン計測器アレイ」を設計・製作し、正確な空間分布情報が得るため、個々のチャンネルの計測器の感度の絶対較正を行う予定である。

This study includes the following aspects: 1. The development of a new type of oblique incidence particle measurement method, 2. The study of spatial symmetry of oblique incidence particle measurement method, 3. The study of spatial distribution of oblique incidence particle measurement method, 3. The study of spatial symmetry of oblique incidence particle measurement method, 3. The purpose of this paper is to study the characteristics of the open-end system and the effects of the symmetry of the main component, the radial end region, and the potential of the open-end system on the loss particles. This year, 1. Design and manufacture of a tester for oblique incidence type of optical sensors. The effect of electron on S/N ratio is calculated. 2. The measurement device is set to the rear, the temperature is keV, and the high temperature electrons are generated. The separation is complete and the calculation is performed with high accuracy. 3. The above notes indicate that the collection of data, AD conversion, purchase, arrangement, and development of data are in progress. Future policies include improving and designing sensors to reduce measurement errors caused by abnormal electric fields and the location of sensors, and in fact designing and manufacturing a "new oblique incidence type infrared sensor" so that accurate spatial distribution information can be obtained, and the absolute correction of the sensitivity of individual sensors can be determined.