表面をSTM/AFMで修飾した基板上への結晶成長に関する研究
STM/AFM表面改性基底晶体生长研究
基本信息
- 批准号:06750004
- 负责人:
- 金额:$ 0.58万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
- 财政年份:1994
- 资助国家:日本
- 起止时间:1994 至 无数据
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
本研究は、Mos_2やGaSeなどの層状物質基板の表面、または表面を水素終端によって不活性化したSi(111)基板表面を、走査型トンネル電子顕微鏡(STM)や原子間力顕微鏡(AFM)を用いて原子スケールで修飾・加工を行い、その上に他の有機物質や化合物半導体を成長することで、原子スケールで成長様式や構造を制御し、任意のパターン描画を実現できる手法の開発を目的とする。本年度はまず最初に、これらの物質の様に表面が不活性な基板を、何らかの手法で加工した際に形成されるステップ等の活性部位に対し、結晶成長がどのように進行するか、を検証するために、(1)水素終端Si(111)基板、(2)螺旋成長した層状物質GaSe薄膜、の各基板上へ、分子性結晶であるC_<60>の成長を行った。(1)の水素終端基板上では、基板表面に残った終端の不完全な部分で核形成が起こり、C_<60>分子がデンドライト形状の島状成長をすることが、基板温度を変えて行った一連の測定から確認された。完全な水素終端を行った上で、STMの探針で表面の水素原子を選択的に脱離させることが出来れば、任意の位置にC_<60>分子を吸着・成長させることが可能であるといえる。(2)の螺旋状GaSe薄膜上には螺旋の各ステップ端に活性部位が存在すると考えられるが、C_<60>分子はまずそのステップ端に吸着し、次に螺旋のテラスを埋めて成長していく様子がAFMによって観察された。すなわち、平坦な層状物質基板上に溝状のステップを形成すれば、C_<60>分子などはその中で選択的に成長すると期待される。現在そのような溝状構造の作製の実験を進めており、分子性結晶による微細構造の物性測定を目指している。
In this study, we investigated the surface and reverse surface of Mos2 and GaSe layered material substrates, including the surface of Si(111) substrate, the surface of Si(111) substrate, and the structure of Si(111) substrate by electron microscopy (STM) and atomic force microscopy (AFM). The purpose of the development of arbitrary drawing In this year, the growth of active sites such as inactive substrates, methods of processing, and crystal growth on the surface of various substances was initially investigated.(1) Si(111) substrates with water terminals,(2) GaSe thin films with spiral growth, and molecular crystals on various substrates were investigated<60>. (1)The formation of nuclei on the surface of the substrate and the incomplete part of the terminal of the substrate is confirmed by the measurement of the temperature of the <60>substrate. Complete termination of water element, STM probe, surface of water element atom, selective dissociation, adsorption, growth of C_molecule at any <60>position, possible (2)The existence of active sites on the helical GaSe thin film at each end of the helix and the adsorption of C_molecules at each end of the helix and the growth of C_<60>molecules are investigated by AFM. A groove is formed on a flat substrate, and C molecules are expected to grow in the medium<60>. Now, the process of making groove structure is advanced, molecular crystallization is carried out, and the physical properties of microstructure are measured.
项目成果
期刊论文数量(1)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
K.Ueno,M.Sakurai,A.Koma: "Van der Woals epitaxy on hydrogen-terminated Si(m) surfaces and investigation of its growth mechanism by atomic force microscope." Journal of crystal Growth. (印刷中). (1995)
K. Ueno、M. Sakurai、A. Koma:“氢封端 Si(m) 表面的范德沃尔斯外延及其通过原子力显微镜研究的生长机制”(《晶体生长杂志》)(1995 年)。 )
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