Röntgenstreuungsuntersuchungen an organisch-anorganischen Grenzflächen

有机-无机界面的X射线散射研究

• 批准号: 5304886
• 负责人: Professor Dr. Frank Schreiber
• 金额: --
• 依托单位: Lehrstuhl Physik der molekularen und biologischen Materie
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Priority Programmes
• 财政年份: 2001
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 2000-12-31 至 2007-12-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/5304886?language=en
• 关键词: ntgenstreuungsuntersuchungen; organisch; anorganischen; Grenzfl; chen

Die strukturellen Eigenschaften organischer Schichten und organisch-anorganischer Grenzflächen, welche für die Funktion organischer Feldeffekt-Transistoren (OFET) von großer Bedeutung sind, sollen mittels Röntgenstreuung und komplementärer Methoden (Neutronenstreuung, Rasterkraftmikrospie (AFM) und Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) untersucht werden. Das Wachstum der Schichten soll mit zeitaufgelöster Streuung in situ beobachtet werden. Die Epitaxie und die schichtdickenabhängigen elastischen Spannungen sollen mit hoher Auflösung mittels Röntgenbeugung bei streifendem Einfall (unter Einsatz von Synchrotronstrahlung) untersucht werden. Die für die technische Nutzung wichtigen thermischen Eigenschaften einschließlich der stark anisotropen thermischen Ausdehnung und der möglichen Interdiffusion von Metallkontakten in die organische Schicht sollen in der Kombination von Röntgenreflektivität und TEM untersucht werden. Dabei soll eine detaillierte Charakterisierung des Wachstums und der Struktur das Verständnis dieser Materialien verbessern und letztlich zu einer erhöhten Effizienz und thermischen Belastbarkeit der Bauelemente führen.

Die strukturellen Eigenschaften organischer Schichten und organisch-anorganischer Grenzflächen，welche für die Funktion organischer Feldeffekt-Transistoren（OFET）von großer Bedeutung sind，sollen mittels Röntgenstreuung und komplementärer Methoden（Neutronenstreuung，Rasterkraftmikrospie（AFM）und Transmissionselektronenmikroskopie（TEM）untersucht韦尔登. Schichten的Wachstum soll mit zeitaufgelöster Streuung in situ beobachtet韦尔登.外延层和弹性伸缩层可以通过更高的辐射强度（在同步辐射下）来实现韦尔登。Die für die technische Nutzung wichtigen thermischen Eigenschaften einschließlich der stark anisotropen thermischen Ausdehnung und der möglichen Interdiffusion von Metallkontakten in die organische Schicht sollen in der Combination von Röntgenreflektivität und TEM untersucht韦尔登. Dabei soll eine detaillierte Charakterisierung des Wachstums und der Struktur das Verständnis dieser Materialien verbessern und letztlich zu einer erhöhten Effizienz und thermischen Belastbarkeit der Bauelemente führen.