システムオンチップのテストスケジューリングとテストアクセス機構

片上系统测试调度和测试访问机制

• 批准号: 01F00735
• 负责人: 藤原 秀雄
• 金额: $ 0.58万
• 依托单位: Nara Institute of Science and Technology
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for JSPS Fellows
• 财政年份: 2001
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2001 至 2002
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-01F00735/
• 关键词: システムオンチップのテスト; テストアーキテクチャ; テストアクセス機構; テスト容易化設計; 低消費電力; ナップザック問題

来日以来、精力的に研究打ち合わせを行い、システムオンチップのテストアクセス機構の研究およびその最適なテストスケジューリング法に関する研究を行った。主な研究成果は、(1)低消費電力の下でのテストアクセス機構のスケジューリング法の研究、(2)コアベース設計に対する効率の良いテストソリューションの研究、(3)先取りと再構成可能なラッパーを用いた最適なテストアクセススケジューリング法の研究、(4)システムオンチップ設計のためのテスト資源分割と最適化に関する研究、である。研究過程で次々と新しいアイディアが出され、それらを奈良先端科学技術大学院大学・情報科学研究科の技術報告NAIST Technical Report(2件)、IEEE主催の国際会議(Asian Test Symposium, European Test Workshop, Workshop on RTL and High Level Testing)(3件)、電子情報通信学会フォールトトレラントシステム研究会(1件)、に既に発表済みであり、さらに国際会議(VTS'03)に投稿した論文は採択され、2003年5月にアメリカで発表予定である。さらにこれまでに国際会議に発表した論文3編を、国際的に権威のあるIEEEの学術雑誌IEEE Trans. on Computers, IEEE Trans. on CAD, IEEE Trahs. on VLSI Systems、に投稿した。

Since the beginning of the day, we have been working hard in the field of research, and we have been studying the most important issues in the field of research. The main research results are as follows: (1) the research results of the main research, (1) the research of the low-cost electric power system, (1) the research of the low-cost electric power system, (1) the research of the low-cost electric power system, (1) the study of the research results, (1) the research results of the main research results, (1) the research, (2) the design and development of the equipment, and (3) (4) it is necessary to conduct research and research on the optimization of resource division and resource segmentation in the design and development of medical equipment. During the course of the study, the technical report of the Department of Information Science and Research, University of Advanced Science and Technology, Nara University, NAIST Technical Report (2), and IEEE International Conference (Asian Test Symposium, European Test Workshop). Workshop on RTL and High Level Testing) (3), the Society of Electronic Information and Communication (CETCC) (1), the International Conference (VTS'03), the International Conference (VTS'03), and the International Conference on International Conference (May 2003). Please contact the International Conference, IEEE, International Conference, International Conference, International Conference, On Computers, IEEE Trans. On CAD, IEEE Trahs. On VLSI Systems, "contribution".

项目成果

Erik Larsson: "Optimal Test Access Mechanism Scheduling using Preemption and Reconfigurable Wrappers"Digest of Papers, IEEE 3rd Workshop on RTL and High Level Testing. 6-11 (2002)

Erik Larsson：“使用抢占和可重新配置包装器的最佳测试访问机制调度”论文摘要，IEEE 第三届 RTL 和高级测试研讨会。

Erik Larsson: "Integrated Test Scheduling, Test Parallelization and TAM Disign"Proc. of IEEE the 11th Asian Test Symposium. 397-404 (2002)

Erik Larsson：“集成测试调度、测试并行化和 TAM 设计”Proc。

Erik Larsson: "Efficient Test Solutions for Core-based Designs"Proc. 21st IEEE VLSI Test Symposium. (in press). (2003)

Erik Larsson：“基于核心的设计的高效测试解决方案”Proc。

Erik Larsson: "Power Constrained Preemptive TAM Scheduling"Digest of 7th IEEE European Test Workshop. 411-416 (2002)

Erik Larsson：“功率受限抢占式 TAM 调度”第七届 IEEE 欧洲测试研讨会摘要。