Tiefendifferenzierende XPS-Analyse der Oberflächenregion heterogener Katalysatoren

多相催化剂表面区域的深度微分 XPS 分析

• 批准号: 5312814
• 负责人: Professor Dr. Wolfgang Grünert
• 金额: --
• 依托单位: Lehrstuhl für Technische Chemie
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Research Grants
• 财政年份: 2001
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 2000-12-31 至 2006-12-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/5312814?language=en
• 关键词: Tiefendifferenzierende; XPS; Analyse; der; Oberfl

Ziel ist die Erarbeitung und Anwendung einer neuen zerstörungsfreien Methodik zur quantitativen Analyse der Oberflächenregion realer heterogener Katalysatoren, die auf dem tiefendifferenzierenden Einsatz der Photoemission (Variation der Probentiefe) beruht. Durch Ermittlung der Änderungen von Elementverhältnissen bzw. des Oxidationszustandes senkrecht zur Probenoberfläche ("Tiefenprofile") soll eine korrekte Extrapolation dieser Eigenschaften auf die äußere Oberfläche ermöglicht werden. Weiterhin sollen Kriterien erarbeitet werden, die es gestatten, aus den experimentellen Tiefenprofilen unter Berücksichtigung morphologischer Eigenschaften (Oberflächenkrümmung, Anwesenheit segregierter Partikeln etc.) Aussagen über die Eigenschaften tieferer Schichten der Proben zu gewinnen. Die Variation der Probentiefe soll überwiegend durch Nutzung von Synchrotronstrahlung geschehen, daneben soll durch Verwendung unterschiedlicher Anoden in einem Laborinstrument (Zr Mz neben Al Ka und ggf. UPS) eine vereinfachte Labormethode entwickelt werden. Die tiefendifferenzierende XPS-Analyse soll u. a. dazu eingesetzt werden, Tiefenprofile des Reduktionsgrades bei der Reduktion binärer und ternärer Oxide zu charakterisieren - u. a. im Zusammenhang mit der temperaturprogrammierten Reduktion dieser Oxide - sowie Tiefenprofile von Elementverhältnissen bei Zeolithkatalysatoren zu studieren.

Ziel ist die Erarbeitung und Anwendung einer neuen zerstörungsfreien Methodik zur quantitativen Analyse der Oberflächenregion realer heterogener Katalysatoren，die auf dem tiefendrizierenden Einstrument der Photoemission（Variation der Probentiefe）beruht. Dütten Ermittlung der Änderungen von Elementverhältnissen bzw. des Oxidationszustandes senkrecht zur Probenoberfläche（“Tiefenprofile”）soll eine korrekte Extrapolation dieser Eigenschaften auf die äußere Oberfläche ermöglicht韦尔登. Weiterhin sollen Kriterien erarbeitet韦尔登，die es gestatten，aus den experimentellen Tiefenprofilen unter Berücksichtigung morphologischer Eigenschaften（Oberflächenkrümmung，Anwesenchild segregierter Partikeln etc.）这是一个非常重要的问题。概率的变化取决于同步辐射的调谐，也取决于在一台同步辐射仪（Zr Mz neben Al Ka und ggf.）上进行的非线性阳极化。UPS）提供一种通用的检测方法。XPS-Analyse soll u. a. dazu eingesetzt韦尔登，Tiefenprofile des Reduktionsgrades bei der Reduktion binärer und ternärer Oxide zu charakterisieren - u. a.在研究沸石催化分解元素的氧化物还原过程中，采用了温度程序升温法。