近接場領域における単一有機微結晶の光学的性質とそのナノ光加工による制御

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一年という限られた時間の中で,おもに実験装置の開発および改良を行なった。まず,原子間力顕微鏡(AFM)用防音カバーを購入し,AFMの解像度の向上をはかった。これにより,分子レベルの画像測定が可能になった。さらに探針評価用標準サンプルを購入し,プローブ先端の形状を評価した。そのデータをもとに,なまの画像から試料表面の形状を再構成する方法を開発した。プローブ先端と試料の凹凸が同程度の大きさであるときにAFM像の水平方向のぼけは顕著になるが,このような場合の画像補正法として上の手法は最も有効である。またこの方法を走査型近接場光学顕微鏡(SNOM)にも応用し,その短所といわれているAFM像での低い解像度を改善することができた。これはSNOMを使ったナノメートル加工とその同時評価に欠かせない技術である。つぎに,低温用SNOMを稼動するために必要な,水晶振動子による光ファイバープローブの距離制御法の開発をおこなった。具体的には,温度制御可能なはんだ付け装置を購入し,回路装着時の熱によって水晶振動子が損傷することを防いだ。その結果,良好な発振特性を得ることができるようになり,装置の稼動に目途がついた。水晶振動子による上の方法は,低温用SNOMだけではなく,半導体レーザー光による距離制御を行なっていた従来の室温用SNOMにも適用可能である。これによって,近接場測定にとって望ましくない半導体レーザー光を取り除くことができるようになり,また,一種類のプローブにしか対応していない従来の装置においてさまざまな種類の光ファイバープローブを使うことができるようになった。最後に,いままでに得られたペリレン微結晶のナノ加工に関する研究成果について,国内の研究会および海外で開かれた国際会議において発表した。以上