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3-D analyses for crack tip dislocations by using electron tomography
使用电子断层扫描进行裂纹尖端位错的 3D 分析
基本信息
- 批准号：18360305
- 负责人：
- 金额：$ 8.97万
- 依托单位：
- 依托单位国家：日本
- 项目类别：Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
- 财政年份：2006
- 资助国家：日本
- 起止时间：2006 至 2008
- 项目状态：已结题
- 来源：
- 关键词：
项目摘要
近年金属材料分野への応用が始まった電子線トモグラフィ法は, 主に吸収コントラストを用いた観察に限られてきたため, 回折コントラストを用いて結像させる転位のトモグラフィ観察は難しい状況にあった. そのような中で本研究では, 試料の回転軸と回折ベクトルを供に亀裂進展方向と平行になるよう制御し, 連続傾斜像取得中に転位のコントラストを一定に保つことで, 亀裂先端転位群のトモグラフィ観察を行い, 亀裂先端転位の三次元構造を明らかにした.
In recent years, metal materials have been divided into different fields, such as electron beam, electron beam and electron beam. In this study, the sample's rotation axis and rotation angle are provided, the crack progress direction is parallel, the tilt image is obtained, the crack tip position group is observed, and the crack tip position three-dimensional structure is clearly observed.
项目成果
期刊论文数量（0）
专著数量（0）
科研奖励数量（0）
会议论文数量（0）
专利数量（0）
Crack Tip dislocations Observed by High-Voltage Electron-Microscopy in Single Crystal Silicon
高压电子显微镜观察单晶硅中的裂纹尖端位错
- DOI：
- 发表时间：2006
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：M. Tanaka;K. Higashida;H. Nakashima;H. Takagi and M. Fujiwara;川本重雄;F. Kawashima;K. Higashida and M. Tanaka
- 通讯作者：K. Higashida and M. Tanaka
Three-dimensional observation of dislocations by electron tomography in a silicon crystal
通过电子断层扫描对硅晶体中的位错进行三维观察
- DOI：
- 发表时间：2008
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：M. Tanaka;M. Honda;M. Mitsuhara;S. Hata;K. Kaneko;K. Higashida
- 通讯作者：K. Higashida
Si結晶中のき裂先端転位とその内部応力場の赤外光弾性法による可視化
使用红外光弹性方法可视化硅晶体中的裂纹尖端位错及其内应力场
- DOI：
- 发表时间：2006
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：東田賢二;田中將己;星野由美
- 通讯作者：星野由美
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Structure analysis of lattice defects in near bulk specimens combining high-voltage electron microscopy and electron energy loss spectroscopy.
结合高压电子显微镜和电子能量损失光谱对近块体样品中的晶格缺陷进行结构分析。
- 批准号：
22246090 - 财政年份：2010
- 资助金额：
$ 8.97万 - 项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
Mesoscopic-scale dynamics of materials fracture and workability of silicon crystals
材料断裂的细观动力学和硅晶体的可加工性
- 批准号：
16360316 - 财政年份：2004
- 资助金额：
$ 8.97万 - 项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
Microstructure of Crack Tip Plastic Zone and Fracture Toughness In Silicon Crystals
硅晶体裂纹尖端塑性区的微观结构与断裂韧性
- 批准号：
14550656 - 财政年份：2002
- 资助金额：
$ 8.97万 - 项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
TEM analysis for meso-scale textures developed in heavily deformed Fe-alloys
严重变形铁合金细观织构的 TEM 分析
- 批准号：
12650662 - 财政年份：2000
- 资助金额：
$ 8.97万 - 项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
Development of in-sutu observation system for internal stress fields due to lattice defects using the infrared photoelastic method
利用红外光弹法开发晶格缺陷引起的内应力场原位观测系统
- 批准号：
11555162 - 财政年份：1999
- 资助金额：
$ 8.97万 - 项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B).
Study on the dislocation emission around a crack tip by using high-voltage electron microscopy
裂纹尖端周围位错发射的高压电子显微镜研究
- 批准号：
10650651 - 财政年份：1998
- 资助金额：
$ 8.97万 - 项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
Visualization of crack-grain boundary interaction in transparent crystals
透明晶体中裂纹与晶界相互作用的可视化
- 批准号：
08650770 - 财政年份：1996
- 资助金额：
$ 8.97万 - 项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)