Induced Charge Evaluation for the Development of Particle Detectors Fabricated on Silicon Carbide
Induced Charge Evaluation for the Development of Particle Detectors Fabricated on Silicon Carbide
批准号:
18360458
负责人:
OHSHIMA Takeshi
金额:
$10.85万
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份:
2006
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2006 至 2008
中文摘要
耐放射線性炭化ケイ素(SiC)粒子検出器開発に必要な基礎データとして、ベータ線、アルファ線及びイオン入射により、SiCダイオードに発生する電荷の収集効率(CCE)を調べた。アルファ線等では、ほぼ100%のCCEを観測しSiCの検出器応用の有効性を実証した。一方、Niのような重イオンではSiCの物性に起因するCCEの低下が見出された。更に、電子線等により損傷を加えたSiCダイオードのCCE低下を調べ、優れた耐性を明らかにした。
英文摘要
耐放射線性炭化ケイ素(SiC)粒子検出器開発に必要な基礎データとして、ベータ線、アルファ線及びイオン入射により、SiCダイオードに発生する電荷の収集効率(CCE)を調べた。アルファ線等では、ほぼ100%のCCEを観測しSiCの検出器応用の有効性を実証した。一方、Niのような重イオンではSiCの物性に起因するCCEの低下が見出された。更に、電子線等により損傷を加えたSiCダイオードのCCE低下を調べ、優れた耐性を明らかにした。
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Degradation of Charge Collection Efficiency Obtained for 6H-SiC n^+p Diodes Irradiated with Gold Ions
经金离子照射的 6H-SiC n^ p 二极管的电荷收集效率的降低
DOI:
--
发表时间:
2007
期刊:
Materials Science Forum 556-557
影响因子:
--
作者:
[T.Ohshima, T.Satoh, M.Oikawa, S.Onoda, S.Hishiki, T.Hirao, T.Kamiya, T.Yokoyama, A.Sakamoto, R.Tanaka, I Nakano, G.Wagner, H.Itoh]
通讯作者:
H.Itoh
Degradation of Charge Collection Efficiency for 6H-SiC Diodes by Electron Irradiation
电子辐照导致 6H-SiC 二极管电荷收集效率下降
DOI:
--
发表时间:
2009
期刊:
Materials Science Forum 600-603
影响因子:
--
作者:
[N. Iwamoto, S. Onoda, S. Hishiki, T. Ohshima, M. Murakami, I. Nakano, K. Kawano]
通讯作者:
K. Kawano
Transient Response to High Energy Heavy Ions in 6H-SiC n^+p Diodes
6H-SiC n^ p 二极管对高能重离子的瞬态响应
DOI:
--
发表时间:
2009
期刊:
Materials Science Forum 600-603
影响因子:
--
作者:
[S. Onoda, T. Ohshima, T. Hirao, S. Hishiki, N. Iwamoto, K. Kojima, K. Kawano]
通讯作者:
K. Kawano
6H-SiCダイオードにおけるイオンビーム誘起電荷量の低下
6H-SiC 二极管中离子束感应电荷的减少
DOI:
--
发表时间:
2007
期刊:
影响因子:
--
作者:
[小野田忍, 岩本直也, 大島武, 平尾敏雄,河野勝泰]
通讯作者:
平尾敏雄,河野勝泰
Reduction of Effective Carrier Density and Charge Collection Efficiency in SiC Devices due to Radiations
辐射导致 SiC 器件中有效载流子密度和电荷收集效率降低
DOI:
--
发表时间:
2009
期刊:
American Institute of Physics Conference Proceedings 1099
影响因子:
--
作者:
[S. Onoda, N. Iwamoto, T. Hirao, K. Kawano, K. Kojima, T. Ohshima]
通讯作者:
T. Ohshima
共 24 条
Control of Photons and Spins of High-Brightness Single Photon Center in Silicon Carbide
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批准号:26286047
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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资助金额:$10.15万
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财政年份:2014
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负责人:OHSHIMA Takeshi
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依托单位:
Controlling of Single Photon Source in Silicon Carbide
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批准号:24656025
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项目类别:Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
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资助金额:$2.58万
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财政年份:2012
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负责人:OHSHIMA Takeshi
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依托单位:
Mechanism of the Destruction of Oxide on Silicon Carbide due to ChargeInduced by Ion Beams
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批准号:21360471
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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资助金额:$11.56万
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财政年份:2009
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负责人:OHSHIMA Takeshi
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依托单位: