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窒化物半導体微細構造制御による蛍光体フリー高効率多波長発光ダイオードの開発

窒化物半導体微細構造制御による蛍光体フリー高効率多波長発光ダイオードの開発
利用氮化物半导体微结构控制开发无荧光粉高效多波长发光二极管
批准号:
08J08293
负责人:
上田 雅也
金额:
$0.77万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for JSPS Fellows
财政年份:
2008
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2008 至 2009

项目摘要

项目成果

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研究目的『窒化物半導体微細構造制御による蛍光体フリー高効率多波長発光ダイオードの開発』{11-22}GaN基板とInGaN量子ドット活性層を組み合わせて用いることで蛍光体無しで高効率かつ高演色性LED(テイラーメイドLED)を作製できると考えた.研究進捗状況前年度までに行った(0001)面上InGaN量子ドットの作製に引き続き,(-1-12-2)GaN基板上へのInGaN量子ドットの結晶成長も行った.成長方法は有機金属気相成長法を用い,基板上へ直接975℃付近でGaN薄膜をホモエピタキシャル成長し,原子レベルでフラットな表面を得た.その後,InGaN量子ドット層の成長のため,成長温度を約700-840℃として,数ML(1MLは0.136A)だけ原料を供給した.成長様式を調べた結果,GaN上にまずInGaNが一面に成長したのち,数ML程度の揺らぎが存在していることがわかり,ML揺らぎによりQDが自己形成していると考えられる.また,量子ドットとして機能しているかを調べるため(-1-12-2)InGaNQDの時間分解PL測定を行った.得られた減衰寿命(典型値102ps)は極性面(InGaN/GaNQDにおいて数ns)および無極性面QD(AIN/GaNQDにおいて約300ps)の報告よりも短く,半極性InGaN/GaNQDにおいては全方位的に内部電界が低減されていることを示唆している.In組成の不均一があるInGaNのTRPL減衰寿命の発光エネルギー依存性は低エネルギー側程寿命が長くなる傾向にある一方,(-1-12-2)InGaN/GaNQDでは低温でのTRPL寿命の発光エネルギー依存性はほぼなく,むしろ高エネルギーほど寿命が長くなっている.これは,ポテンシャル揺らぎではなく一つ一つのドットとして機能している可能性を示唆するデータである.
期刊论文(0)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
DOI: 10.1103/physrevb.78.233303
发表时间: 2008-12
期刊: Physical Review B
影响因子: 3.7
作者: [M. Ueda;M. Funato;K. Kojima;Y. Kawakami;Y. Narukawa;T. Mukai]
通讯作者: M. Ueda;M. Funato;K. Kojima;Y. Kawakami;Y. Narukawa;T. Mukai
半極性{11-22}InGaN量子井戸構造の近接場発光マッピング測定
半极性{11-22}InGaN量子阱结构的近场发射映射测量
DOI: --
发表时间: 2009
期刊:
影响因子: --
作者: [金田昭男, 上田雅也, 船戸充, 川上養一]
通讯作者: 川上養一
Luminescence inhomogeneity caused by less-diffusive carriers in semipolar{11-22}InGaN/GaN quantum well active layers
半极性{11-22}InGaN/GaN量子阱有源层中低扩散载流子引起的发光不均匀性
DOI: --
发表时间: 2009
期刊:
影响因子: --
作者: [M.Ueda, A.Kaneta, M.Funato, Y.Kawakami]
通讯作者: Y.Kawakami
放射光マイクロX線回折を用いたマイクロファセット上InGaN/GaN量子井戸構造の評価
使用同步加速器微 X 射线衍射评估微面上的 InGaN/GaN 量子阱结构
DOI: --
发表时间: 2009
期刊:
影响因子: --
作者: [榊篤史, 川村朋晃, 大野裕孝, 上田雅也, 船戸充, 川上養一, 木村滋, 坂田修身]
通讯作者: 坂田修身
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