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Time-resolved x-ray standing waves of ferroelectric ultra-thin film for a polarization measurement

Time-resolved x-ray standing waves of ferroelectric ultra-thin film for a polarization measurement
用于偏振测量的铁电超薄膜的时间分辨 X 射线驻波
批准号：
20510113
负责人：
SAKATA Osami
金额：
$3.0万
依托单位：
Japan Synchrotron Radiation Research Institute
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份：
2008
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2008 至 2010
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-20510113/
关键词：
ナノ材料解析評価X線定在波法酸化物基板超薄膜X線集光ビームマイクロビーム界面原子配列時分割X線回折強誘電体超薄膜ナノ秒オーダー電気分極格子歪電歪定数圧電定数物性同時測定

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We succeeded in recording very narrow profiles diffracted from oxide substrates, which means that the crystal substrates were regarded as perfect crystals. X-ray standing waves and diffracted curves caused by dynamical diffraction effects were observed from nanostructures and thin films on oxide crystals. In addition, we developed time-resolved measurements of x-ray diffraction and polarization enabled determination of the piezoelectric constants and electrostrictive coefficients of a ferroelectric film.
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会议论文
Synchrotron X-ray Diffraction Study on a Single Nanowire of PX-phase Lead Titanate
PX相钛酸铅单根纳米线的同步辐射X射线衍射研究
DOI： --
发表时间： 2010
期刊： J.Eur.Ceram.Soc. 30
影响因子： --
作者： [T.Yamada, J.Wang, O.Sakata, C.S.Sandu, Z.He, T.Kamo, S.Yasui, N.Stter, H.Funakubo]
通讯作者： H.Funakubo
高輝度放射光による埋もれた界面の研究の最前線(招待講演)
高强度同步辐射埋地界面研究前沿（特邀报告）
DOI： --
发表时间： 2009
期刊：
影响因子： --
作者： [A.Sujith, T.Itoh, H.Abe, A.A.Anas, V.Biju, M.Ishikawa, 坂田修身]
通讯作者： 坂田修身
強誘電体薄膜の電歪決定のためのナノ秒時分割X線回折、口頭発表
用于铁电薄膜电致伸缩测定的纳秒时间分辨 X 射线衍射，口头演示
DOI： --
发表时间： 2009
期刊：
影响因子： --
作者： [坂田修身, 矢橋牧名, 春木理恵, 木村滋, 安井伸太郎, 舟窪浩]
通讯作者： 舟窪浩
In situ observation of a Au (1 1 1) electrode surface using the X-ray reciprocal-lattice space imaging method
使用 X 射线倒易晶格空间成像方法对 Au (1 1 1) 电极表面进行原位观察
DOI： 10.1016/j.apsusc.2009.01.100
发表时间： 2009
期刊： Applied Surface Science
影响因子： 6.7
作者： [O. Sakata, Masashi Nakamura]
通讯作者： Masashi Nakamura
共 38 条
    Development of x-ray standing waves for visualizing an atomic-scale interface of electronic materials and devices
    • 批准号：
      23600018
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • 资助金额：
      $3.49万
    • 财政年份：
      2011
    • 负责人：
      SAKATA Osami
    • 依托单位：
      National Institute for Materials Science
    Time resolved and in-situ structural analysis of a ferroelectric thin film during polarization switching using synchrotron-based diffraction
    Development and application of a rapid analysis method of a nanostructure by direct observation of a reciprocal-lattice space using synchrotron diffraction
    海外基金