Topographie und Tribologie reiner und adsorbatbedeckter dekagonaler Quasikristalloberflächen

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Mit der Entwicklung der rasterkraftmikroskopischen Untersuchungstechnik ist es in den letzten Jahren möglich geworden, tribologische und Materialeigenschaften auf sehr lokaler Skala zu analysieren. Vorteile gegenüber herkömmlichen Techniken wie Profilometer und Indenter liegen dabei in der prinzipiell möglichen gleichzeitigen Messung von Oberflächentopographie und Reibungskraft bzw. elastischem Verhalten mit einer lateralen Auflösung bis in den Nanometerbereich. Solche Untersuchungen wurden bisher wenig an Quasikristalloberflächen durchgeführt, deren physikalische Eigenschaften hauptsächlich aus Bulkstrukturmessungen, wie sie andernorts durchgeführt werden, extrapoliert werden. In unserem Vorhaben wurden dekagonale Phasen ausgewählt, weil diese durch die Zusammenarbeit mit Kristallzüchtern leicht verfügbar sind und weil sie auf Grund ihrer Struktur Anisotropien in ihren physikalischen Eigenschaften erwarten lassen. Ziel dieses Projekts ist es, mit Hilfe der während der letzten Antragsperiode entwickelten Hochfrequenzkraftmodulationsmikroskopie (HF-FMM) den Einfluß der Oberflächenstruktur, insbesondere Fehlordnungsphänomene und Defekte mit einschließend, auf die tribologischen und elastischen Eigenschaften von realen Quasikristalloberflächen zu untersuchen.