シリコンナノ結晶を用いた薄膜トランジスタに関する研究
シリコンナノ結晶を用いた薄膜トランジスタに関する研究
批准号:
11J55212
负责人:
中峯 嘉文
金额:
$0.45万
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for JSPS Fellows
财政年份:
2011
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2011 至 --
关键词:
中文摘要
点击翻译按钮获取中文摘要
英文摘要
シリコンナノ結晶はその興味深い電気的、光学的、量子的性質から次世代のナノメートル構造を有する電子、光デバイスの材料として注目が集まっている。また本研究では気相中でシリコンナノ結晶の堆積を行っているため、シリコンナノ結晶の溶液を簡単に作製でき、最近盛んに研究が行われているナノプリンティング等の溶液プロセスの技術を応用することにより、薄膜トランジスタ等電子デバイス作製時の価格を抑えることが出来ると考えられる。これらの要因によって本研究で作製されるシリコンナノ結晶は次世代の電子デバイスの材料として非常に有望であると考えられる。しかしシリコンナノ結晶膜中の粒界と空隙、またシリコンナノ結晶自身の自然酸化膜に起因する低い電気伝導度が実際のデバイス応用の際、問題となることを以前の研究で明らかにした。そこで、これらの問題点を解決するためのデバイスプロセスに関して研究を行った。シリコンナノ結晶膜中の粒界と空隙を減少させるためにレーザによるアニーリングに関する研究を行った。レーザからの熱エネルギーによりシリコンナノ結晶の溶融、再結晶化が起き、複数のシリコンナノ結晶の結合によって粒界と空隙が減少すると考えられる。AFM測定の結果よりレーザアニーリングによりシリコンナノ結晶の粒径が増大し、粒界と空隙が減少していることを明らかにした。また電気測定や熱シミュレーションにより、レーザ強度やシリコンナノ結晶膜厚の依存性について明らかにした。さらにシリコンナノ結晶の自然酸化膜の除去に関する研究も行った。従来のHF溶液を用いる方法だと全てのシリコンナノ結晶が基板から剥離してしまうという問題点があったので、今回の研究ではHF蒸気によるエッチングと無水HFによるエッチングの二種類のエッチング方法の実験を行った。それぞれのHF処理直後の電気特性の向上が観測され、有用なエッチングプロセスであることを明らかにした。
期刊论文(0)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
登录
查看更多内容
無水HFエッチングによるシリコンナノ結晶の自然酸化膜の除去
无水HF蚀刻去除硅纳米晶上的原生氧化膜
DOI:
--
发表时间:
2012
期刊:
影响因子:
--
作者:
[西山寛樹, 冨田育義, Yoshifumi Nakamine, 中峯嘉文]
通讯作者:
中峯嘉文
レーザアニーリングによるシリコンナノ結晶薄膜の電気特性への影響
激光退火对硅纳米晶薄膜电性能的影响
DOI:
--
发表时间:
2011
期刊:
影响因子:
--
作者:
[西山寛樹, 冨田育義, Yoshifumi Nakamine, 中峯嘉文, 中峯嘉文]
通讯作者:
中峯嘉文
Electrical Property of Nano-Crystalline Silicon Thin-Films Prepared by Very High Frequency Plasma Deposition System
甚高频等离子体沉积系统制备纳米晶硅薄膜的电学性能
DOI:
--
发表时间:
2011
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Yoshifumi Nakamine, Tetsuo Kodera, Ken Uchida, Mutsuko Hatano, and Shunri Oda]
通讯作者:
and Shunri Oda
Laser Annealing of Silicon Nanocrystals Thin-films Prepared by VHF Plasma Deposition System
VHF等离子体沉积系统制备硅纳米晶薄膜的激光退火
DOI:
--
发表时间:
2011
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Y. Nakamine, Michiel van der Zwan, Johan van der Cingel, Tetsuo Kodera, Ken Uchida, Ryoichi Ishihara and Shunri Oda]
通讯作者:
Ryoichi Ishihara and Shunri Oda
Evaluation of Electrical and Optical Property and High-Density Assembly of Nano-Crystalline Silicon Dot Array for Device Application
纳米晶硅点阵列的电学和光学性能评价及高密度组装器件应用
DOI:
--
发表时间:
2011
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Yoshifumi Nakamine, Ken Someno, Hiroki Nikaido, Masahiro Kouge, Tetsuo Kodera, Yukio Kawano, Ken Uchida, Mutsuko Hatano, Shunri Oda]
通讯作者:
Shunri Oda
共 7 条