Investigation of stress field and pulverization mechanism at the fault rapture front propagating at a high speed

高速传播断层破裂前缘应力场及粉碎机制研究

基本信息

  • 批准号:
    23654170
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 2.33万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
  • 财政年份:
    2011
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2011 至 2012
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

In order to clarify the mechanism of rock pulverization around fault, a series of stick-slip experiment was conducted with a gas-medium triaxial apparatus, recording strains with5MHz sampling rate for up to10 channels. The mechanical data confirmed a supershear velocity of the propagation of rapture front during large stick-slip. Fracture pattern in the pulverized cores shows obvious dependence on the slip direction. It is likely that anomalously high axial stress caused strong tension stress on the slip plane during slip resulted in pervasive mode I fractures.
为了阐明断层周围岩石的粉化机理,在气体介质三轴仪上进行了一系列的粘滑实验,以5MHz的采样率记录了多达10道的应变。力学数据证实了在大的粘滑过程中断裂前缘的传播具有超剪切速度。粉化岩芯的断裂模式与滑动方向有明显的依赖性。很可能是在滑动过程中,过高的轴向应力在滑动面上引起了强烈的拉应力,导致了普遍的I型断裂。

项目成果

期刊论文数量(0)
专著数量(0)
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会议论文数量(0)
专利数量(0)
Pulverized Rockの微細構造:サンアンドレアス断層と有馬高槻構造線
粉岩微观结构:圣安德烈亚斯断层和有马高槻构造线
  • DOI:
  • 发表时间:
    2012
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    中野谷賢;松清修一;羽田亨;中谷剣 ほか
  • 通讯作者:
    中谷剣 ほか
Pulverized rockの微細構造と粒径分布:サンアンドレアス断層と有馬高槻構造線
粉岩的微观结构和粒度分布:圣安德烈亚斯断层和有马高槻构造线
  • DOI:
  • 发表时间:
    2012
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    M. Nakanotani;S. Matsukiyo;T. Hada;中谷剣 ほか
  • 通讯作者:
    中谷剣 ほか
Pulverization of quartz single crystal and natural quartzite induced by possible super-shear rupture during stick-slips
粘滑过程中可能的超剪切破裂导致石英单晶和天然石英岩的粉碎
  • DOI:
  • 发表时间:
    2011
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    O.Nishikawa ;J.Muto ;K.Otsuki
  • 通讯作者:
    K.Otsuki
Microstructures and grain size distribution of pulverized fault rocks
粉状断层岩的显微结构和粒度分布
  • DOI:
  • 发表时间:
    2013
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    J.Muto ;K.Nakatani ;O.Nishikawa ;H.Nagahama
  • 通讯作者:
    H.Nagahama
Pulverized Rock,の微細構造:サンアンドレアス断層と有馬高槻構造線
粉岩微观结构:圣安德烈亚斯断层和有马高槻构造线
  • DOI:
  • 发表时间:
    2012
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    中谷剣;武藤潤;西川治;長浜裕之
  • 通讯作者:
    長浜裕之
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  • 通讯作者:
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Evaluation of the residual stress on the fault plane by stick slip experiment and high resolution observation of slip plane
粘滑实验及滑移面高分辨率观测评价断层面残余应力
  • 批准号:
    20540442
  • 财政年份:
    2008
  • 资助金额:
    $ 2.33万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
Atomic Level Study of Photo-Stimulated Field Emission from Insulating Thin Layers Utilizing the Scanning Atom Probe
利用扫描原子探针进行绝缘薄层光激场发射的原子水平研究
  • 批准号:
    09450023
  • 财政年份:
    1997
  • 资助金额:
    $ 2.33万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
TUNNELING CHARACTERISCITCS OF INDIVIDUAL SURFACE ATOMS
单个表面原子的隧道特性
  • 批准号:
    05245106
  • 财政年份:
    1997
  • 资助金额:
    $ 2.33万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
Study on the Advancement of the Geographic Information Science (GIS) and the Organization for the GIS Education and Research
地理信息科学的发展及GIS教育与研究的组织研究
  • 批准号:
    06306012
  • 财政年份:
    1994
  • 资助金额:
    $ 2.33万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
ATOM MAMIPULATION AND EVALUATION OF PROBING TIPS
原子操纵和探测尖端的评估
  • 批准号:
    05245107
  • 财政年份:
    1993
  • 资助金额:
    $ 2.33万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
Development of Field Emission Type Ultra-High Vacuum Gauge
场发射型超高真空计的研制
  • 批准号:
    02555009
  • 财政年份:
    1990
  • 资助金额:
    $ 2.33万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Developmental Scientific Research (B)
Ultra-Fine Surface Analysis by a Combined Instrument of an STM and A-P
STM 和 A-P 组合仪器进行超精细表面分析
  • 批准号:
    01460211
  • 财政年份:
    1989
  • 资助金额:
    $ 2.33万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for General Scientific Research (B)
Ultramicroanalysis of Conducting Polymers with Atom-Probe
用原子探针对导电聚合物进行超微量分析
  • 批准号:
    61460062
  • 财政年份:
    1986
  • 资助金额:
    $ 2.33万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for General Scientific Research (B)
Ultra-Microscopic Analysis of Metal-Compound Semiconductor Interfaces by the Atom-Probe Mass Analyzer
利用原子探针质量分析仪对金属化合物半导体界面进行超显微分析
  • 批准号:
    59420038
  • 财政年份:
    1984
  • 资助金额:
    $ 2.33万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for General Scientific Research (A)
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