磁気圏観測衛星SCOPE搭載用高性能小型軽量低エネルギー粒子計測装置の開発
磁気圏観測衛星SCOPE搭載用高性能小型軽量低エネルギー粒子計測装置の開発
批准号:
12F02792
负责人:
齋藤 義文
金额:
$1.47万
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for JSPS Fellows
财政年份:
2012
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2012-04-01 至 2015-03-31
中文摘要
本研究の主要目的は将来の衛星搭載に向けて電子とイオンを1台で計測できる観測装置のテストモデルの特性計測試験を実施し、本観測装置の開発を進めることである。本研究は平成25年度から開始したが、平成26年度は平成25年度に設計・製作した要素試験モデルの試験を行うと共に、新たに炭素膜を用いた異なる原理の電子・イオン同時計測センサーの要素試験のための実験装置を設計・製作しその特性を計測した。炭素膜方式の試験のために、炭素膜を静電分析器と検出器であるMCPアセンブリの間に設置できるような実験装置を設計・製作し、この装置を真空チェンバーに入れて電子といくつかの種類のイオンを入射した。その結果、keVより低いエネルギーの粒子を検出すためには、1kVから2kVの加速(炭素膜に1kVから2kVを印加する)が必要である事がわかった。この事は、1kVから2kVの加速さえ行えば、電子、イオン同時計測センサーに炭素膜を使用する事が可能である事を示している。一方、2次電子放出板方式の実験装置を用いた実験の結果、2次電子放出板は1.25keVの電子に対して最も電子の放出効率が良く、1keV以下の電子に対しては遥かに低い効率であることが明らかになった。イオンに関して過去に行った実験では、MgOでコーティングした2次電子放出板の電子放出効率が最もいいという結果となっていたが、今回の電子を用いた実験では、MgOでコーティングした2次電子放出板は、銅やアルミを素材とするものに比べて低い2次電子放出率を示す事がわかった。同時に、電子、イオン同時計測センサーに使用することについては許容範囲であることも明らかとなった。今回の研究結果から、炭素膜方式を電子、イオン同時計測センサーに使用することを決定した。2次電子放出板方式に比べて、簡単な構造で実現でき、より少ない種類の高圧で実現可能な事がその理由である。
英文摘要
本研究の主要目的は将来の衛星搭載に向けて電子とイオンを1台で計測できる観測装置のテストモデルの特性計測試験を実施し、本観測装置の開発を進めることである。本研究は平成25年度から開始したが、平成26年度は平成25年度に設計・製作した要素試験モデルの試験を行うと共に、新たに炭素膜を用いた異なる原理の電子・イオン同時計測センサーの要素試験のための実験装置を設計・製作しその特性を計測した。炭素膜方式の試験のために、炭素膜を静電分析器と検出器であるMCPアセンブリの間に設置できるような実験装置を設計・製作し、この装置を真空チェンバーに入れて電子といくつかの種類のイオンを入射した。その結果、keVより低いエネルギーの粒子を検出すためには、1kVから2kVの加速(炭素膜に1kVから2kVを印加する)が必要である事がわかった。この事は、1kVから2kVの加速さえ行えば、電子、イオン同時計測センサーに炭素膜を使用する事が可能である事を示している。一方、2次電子放出板方式の実験装置を用いた実験の結果、2次電子放出板は1.25keVの電子に対して最も電子の放出効率が良く、1keV以下の電子に対しては遥かに低い効率であることが明らかになった。イオンに関して過去に行った実験では、MgOでコーティングした2次電子放出板の電子放出効率が最もいいという結果となっていたが、今回の電子を用いた実験では、MgOでコーティングした2次電子放出板は、銅やアルミを素材とするものに比べて低い2次電子放出率を示す事がわかった。同時に、電子、イオン同時計測センサーに使用することについては許容範囲であることも明らかとなった。今回の研究結果から、炭素膜方式を電子、イオン同時計測センサーに使用することを決定した。2次電子放出板方式に比べて、簡単な構造で実現でき、より少ない種類の高圧で実現可能な事がその理由である。
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专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
Two in one: making electron and ion measurements using a single MCP in future top hat instruments
二合一:在未来的顶帽仪器中使用单个 MCP 进行电子和离子测量
DOI:
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发表时间:
2014
期刊:
影响因子:
--
作者:
[F. Furrer, M. Berta, M. Christandl, V. Scholz, M. Tomamichel, Michele Torielli, Michele Torielli, M. Torielli, Robert Bedington]
通讯作者:
Robert Bedington
Detecting Electrons and Ions with a Single Detector in Miniaturised Low Energy Particle Analysers
在小型化低能粒子分析仪中使用单个探测器检测电子和离子
DOI:
--
发表时间:
2013
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Robert Bedington, Dhiren Kataria, Yoshifumi Saito]
通讯作者:
Yoshifumi Saito
Two in One: The Development of Techniques to Allow a Single Top-hat Plasma Analyser to Detect Both Electrons and Ions, with a Single MCP Detector
二合一:技术的发展使单个顶帽等离子体分析仪能够通过单个 MCP 检测器同时检测电子和离子
DOI:
--
发表时间:
2014
期刊:
影响因子:
--
作者:
[Robert Bedington, Y. Saito]
通讯作者:
Y. Saito
重力天体着陸探査用小型ガスクロマトグラフ質量分析計による有機物その場分析への挑戦
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批准号:22K18740
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项目类别:Grant-in-Aid for Challenging Research (Exploratory)
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资助金额:$4.16万
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财政年份:2022
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负责人:齋藤 義文
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依托单位:
視野角掃引型感度可変低エネルギープラズマ粒子エネルギー分析器の開発
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批准号:09740375
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项目类别:Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
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资助金额:$1.28万
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财政年份:1997
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负责人:齋藤 義文
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依托单位:
TOF法を用いた人工飛翔体搭載用低エネルギープラズマ粒子質量分析器の開発
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批准号:08740388
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项目类别:Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
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资助金额:$0.64万
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财政年份:1996
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负责人:齋藤 義文
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依托单位:
磁気圏尾部探査衛星ジオテイル搭載低エネルギープラズマ観測器による磁気衝撃波の解析
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批准号:06740387
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项目类别:Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
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资助金额:$0.38万
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财政年份:1994
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负责人:齋藤 義文
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依托单位:
海外基金