Simulation for evaluation of secondary electron signals in helium ion microscope
Simulation for evaluation of secondary electron signals in helium ion microscope
氦离子显微镜中二次电子信号评估的模拟
批准号：
24560029
负责人：
OHYA Kaoru
金额：
$3.33万
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份：
2012
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2012-04-01 至 2015-03-31
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電子・イオン照射による固体の二次電子放出
电子/离子辐照在固体中的二次电子发射
电子/离子辐照在固体中的二次电子发射
DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Akira Okada, Tamio Endo et.al., 大宅 薫]
通讯作者：
大宅 薫
Modeling Ion Induced Secondary Electron Emission in Scanning Ion Microscopes
扫描离子显微镜中离子诱导二次电子发射的建模
扫描离子显微镜中离子诱导二次电子发射的建模
DOI：
--
发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Ohya K, Yamanaka K]
通讯作者：
Yamanaka K
イオンビームによる照射ダメージのダイナミックモンテカルロシミュレーション
离子束辐照损伤的动态蒙特卡罗模拟
离子束辐照损伤的动态蒙特卡罗模拟
DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Toshiki Mori, Tamio Endo et.al., 大宅 薫]
通讯作者：
大宅 薫
Simulation Study of Crystalline Orientation Effect in Scanning Ion Microscopes
扫描离子显微镜中晶体取向效应的模拟研究
扫描离子显微镜中晶体取向效应的模拟研究
DOI：
--
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Miyoshi Yokura, Tamio Endo et.al., Kaoru Ohya]
通讯作者：
Kaoru Ohya
Modeling Secondary Electron Emission from Line Edge Patterns in Scanning Ion Microscopes
扫描离子显微镜中线边缘图案的二次电子发射建模
扫描离子显微镜中线边缘图案的二次电子发射建模
DOI：
--
发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Ohya K, Yamanaka K]
通讯作者：
Yamanaka K
共 22 条
Study of Secondary Electron Image Contrast of Sample Surfaces Scanned by Focused Ion Beams
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批准号：14550026
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项目类别：Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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资助金额：$1.22万
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财政年份：2002
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负责人：OHYA Kaoru
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依托单位：
Computer Simulation of Plasma-Surface Interactions in Fusion Devices
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批准号：09680494
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项目类别：Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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资助金额：$1.6万
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财政年份：1997
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负责人：OHYA Kaoru
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依托单位：
Computer Simulation of Secondary Electron Emission From Plasma Facing Materials in Controlled Fusion Devices
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批准号：06680481
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项目类别：Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
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资助金额：$1.28万
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财政年份：1994
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负责人：OHYA Kaoru
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依托单位：
海外基金