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Simulation for evaluation of secondary electron signals in helium ion microscope
氦离子显微镜中二次电子信号评估的模拟
基本信息
- 批准号：24560029
- 负责人：
- 金额：$ 3.33万
- 依托单位：
- 依托单位国家：日本
- 项目类别：Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- 财政年份：2012
- 资助国家：日本
- 起止时间：2012-04-01 至 2015-03-31
- 项目状态：已结题
- 来源：
- 关键词：
项目摘要
项目成果
期刊论文数量（0）
专著数量（0）
科研奖励数量（0）
会议论文数量（0）
专利数量（0）
電子・イオン照射による固体の二次電子放出
电子/离子辐照在固体中的二次电子发射
- DOI：
- 发表时间：2015
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：Akira Okada;Tamio Endo et.al.;大宅 薫
- 通讯作者：大宅 薫
Modeling Ion Induced Secondary Electron Emission in Scanning Ion Microscopes
扫描离子显微镜中离子诱导二次电子发射的建模
- DOI：
- 发表时间：2013
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：Ohya K;Yamanaka K
- 通讯作者：Yamanaka K
イオンビームによる照射ダメージのダイナミックモンテカルロシミュレーション
离子束辐照损伤的动态蒙特卡罗模拟
- DOI：
- 发表时间：2015
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：Toshiki Mori;Tamio Endo et.al.;大宅 薫
- 通讯作者：大宅 薫
Simulation Study of Crystalline Orientation Effect in Scanning Ion Microscopes
扫描离子显微镜中晶体取向效应的模拟研究
- DOI：
- 发表时间：2014
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：Miyoshi Yokura;Tamio Endo et.al.;Kaoru Ohya
- 通讯作者：Kaoru Ohya
Modeling Secondary Electron Emission from Line Edge Patterns in Scanning Ion Microscopes
扫描离子显微镜中线边缘图案的二次电子发射建模
- DOI：
- 发表时间：2013
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：Ohya K;Yamanaka K
- 通讯作者：Yamanaka K
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{{ truncateString('OHYA Kaoru', 18)}}的其他基金
Study of Secondary Electron Image Contrast of Sample Surfaces Scanned by Focused Ion Beams
聚焦离子束扫描样品表面二次电子图像对比度研究
- 批准号：
14550026 - 财政年份：2002
- 资助金额：
$ 3.33万 - 项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
Computer Simulation of Plasma-Surface Interactions in Fusion Devices
聚变装置中等离子体-表面相互作用的计算机模拟
- 批准号：
09680494 - 财政年份：1997
- 资助金额：
$ 3.33万 - 项目类别：
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06680481 - 财政年份：1994
- 资助金额：
$ 3.33万 - 项目类别：
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- 资助金额：
$ 3.33万 - 项目类别：
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- 批准号：
20860094 - 财政年份：2008
- 资助金额：
$ 3.33万 - 项目类别：
Grant-in-Aid for Young Scientists (Start-up)