Investigation on Switching Mechanism of Resistive RAM using in-situ TEM-STM
利用原位 TEM-STM 研究电阻式 RAM 的开关机制
基本信息
- 批准号:25420279
- 负责人:
- 金额:$ 3.33万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- 财政年份:2013
- 资助国家:日本
- 起止时间:2013-04-01 至 2016-03-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
项目成果
期刊论文数量(0)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
酸素欠陥型抵抗変化メモリにおける欠陥導入層の材料選択
氧缺陷型电阻变化存储器中缺陷引入层的材料选择
- DOI:
- 发表时间:2016
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:中川 良祐;福地 厚;有田 正志;高橋 庸夫
- 通讯作者:高橋 庸夫
平面型抵抗変化メモリにおける導電性フィラメントと抵抗変化のTEMその場観察
平面电阻变化存储器中导电丝和电阻变化的原位TEM观察
- DOI:
- 发表时间:2015
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:M. Arita;Y. Ohno;M. Kudo;Y. Murakami;A. Tsurumaki-Fukuchi;Y. Takahashi;村上暢介,米坂瞭太,浜田弘一,有田正志,高橋庸夫
- 通讯作者:村上暢介,米坂瞭太,浜田弘一,有田正志,高橋庸夫
Cu/MoOx/TiN ReRAMの初期スイッチ過程における導電フィラメント
Cu/MoOx/TiN ReRAM 初始切换过程中的导电丝
- DOI:
- 发表时间:2014
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:廣井孝弘;中根明俊;福地厚;有田正志;高橋庸夫;浦邊大史;安藤秀幸;森江隆;米坂瞭太,越智隼人,村上暢介,有田正志,高橋庸夫;有田正志,大野裕輝,工藤昌輝,高橋庸夫
- 通讯作者:有田正志,大野裕輝,工藤昌輝,高橋庸夫
エレクトロマイグレーションによるCuナノギャップ電極の作製と応用
电迁移铜纳米间隙电极的制备及应用
- DOI:
- 发表时间:2014
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:米坂 瞭太;越智隼人;村上暢介;有田正志;高橋庸夫
- 通讯作者:高橋庸夫
Dynamical observation of Cu/MoOx resistive RAM
Cu/MoOx电阻式RAM的动态观察
- DOI:
- 发表时间:2014
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Masashi Arita;Masaki Kudo;Yuuki Ohno;Yosuke Murakami;and Yasuo Takahashi
- 通讯作者:and Yasuo Takahashi
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- 影响因子:0
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- 影响因子:0.8
- 作者:
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Takahashi Yasuo
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