Study on ReRAM circuit operation using in-situ TEM for development of artificial neurons
使用原位 TEM 研究 ReRAM 电路操作以开发人工神经元
基本信息
- 批准号:16H04339
- 负责人:
- 金额:$ 10.98万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
- 财政年份:2016
- 资助国家:日本
- 起止时间:2016-04-01 至 2019-03-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
项目成果
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Probing electrochemistry at the nanoscale: in situ TEM and STM characterizations of conducting filaments in memristive devices
纳米尺度电化学探测:忆阻器件中导电丝的原位 TEM 和 STM 表征
- DOI:10.1007/s10832-017-0069-y
- 发表时间:2017-02
- 期刊:
- 影响因子:1.7
- 作者:Yuchao Yang;Yasuo Takahashi;Atsushi Tsurumaki-Fukuchi;Masashi Arita;M. Moors;M. Buckwell;A. Mehonic;A. J. Kenyon
- 通讯作者:A. J. Kenyon
Microstructural Evolution during Switching Operation of Resistive RAM
电阻式 RAM 开关操作期间的微观结构演变
- DOI:
- 发表时间:2017
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:M. Arita;A. Tsurumaki-Fukuchi;Y. Takahashi
- 通讯作者:Y. Takahashi
In-situ TEM法によるMoOx/Al2O3 抵抗変化メモリのデバイス劣化観察
原位TEM法观察MoOx/Al2O3阻变存储器器件劣化
- DOI:
- 发表时间:2017
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Y. Li;R. Katsumura;M. K. Gronroos;A. Tsurumaki‐Fukuchi;M. Arita;H. Andoh;T. Morie;Y. Takahashi;石川竜介,平田周一郎,福地厚,有田正志,高橋庸夫
- 通讯作者:石川竜介,平田周一郎,福地厚,有田正志,高橋庸夫
次世代半導体メモリ実現に向けたTEMその場観察を用いた故障メカニズム解析法の確立
建立利用原位TEM观察的失效机理分析方法,以实现下一代半导体存储器
- DOI:
- 发表时间:2017
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:工藤 昌輝;松村 晶;宮崎 宣幸;遠堂 敬史;大多 亮;有田 正志;福地 厚;高橋 庸夫
- 通讯作者:高橋 庸夫
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Arita Masashi其他文献
Electrical Characteristics of Single-Electron Transistor Made of Fe-MgF2 Single-Layer Granular Thin Films
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- 发表时间:
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- 影响因子:0
- 作者:
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Takahashi Yasuo
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- 影响因子:1.5
- 作者:
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Feng Baojie
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- DOI:
- 发表时间:
2018 - 期刊:
- 影响因子:0
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强相关电子系统中的非线性响应
- DOI:
- 发表时间:
2020 - 期刊:
- 影响因子:0
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Yoshihiro Michishita
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24K02249 - 财政年份:2024
- 资助金额:
$ 10.98万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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$ 10.98万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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24K08259 - 财政年份:2024
- 资助金额:
$ 10.98万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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$ 10.98万 - 项目类别:
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- 资助金额:
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- 资助金额:
$ 10.98万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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- 批准号:
23K27132 - 财政年份:2024
- 资助金额:
$ 10.98万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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- 资助金额:
$ 10.98万 - 项目类别:
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