Defect analysis in p- Diamond Layer of Diamond Power Device
Defect analysis in p- Diamond Layer of Diamond Power Device
金刚石功率器件p-金刚石层缺陷分析
批准号：
25820128
负责人：
Kato Yukako
金额：
$2.75万
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份：
2013
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2013-04-01 至 2016-03-31
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ダイヤモンドショットキーバリアダイオードのデバイス動作と結晶品質
金刚石肖特基势垒二极管的器件运行和晶体质量
金刚石肖特基势垒二极管的器件运行和晶体质量
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
作者：
[加藤 有香子, 梅澤 仁]
通讯作者：
梅澤 仁
パワーデバイス応用を目指したウェハ・デバイスの開発課題
针对功率器件应用的晶圆和器件的开发问题
针对功率器件应用的晶圆和器件的开发问题
DOI：
--
发表时间：
期刊：
影响因子：
--
作者：
[鹿田真一, 梅澤仁, 加藤有香子, 山田英明, 坪内信輝, 杢野由明, 茶谷原昭義, 舟木剛]
通讯作者：
舟木剛
DOI：
10.1063/1.4868720
发表时间：
2014-03-10
期刊：
APPLIED PHYSICS LETTERS
影响因子：
4
作者：
[Yamada, H., Chayahara, A., Shikata, S.]
通讯作者：
Shikata, S.
X-ray Topographic Study of a Homoepitaxial Diamond Layer on an Ultraviolet-irradiated Precision Polished Substrate
紫外线照射精密抛光基板上同质外延金刚石层的 X 射线形貌研究
紫外线照射精密抛光基板上同质外延金刚石层的 X 射线形貌研究
DOI：
10.12693/aphyspola.125.969
发表时间：
2014
期刊：
acta physica polonica A
影响因子：
0.7
作者：
[Yukako Kato, Hitoshi Umezawa, Shin-ichi Shikata]
通讯作者：
Shin-ichi Shikata
X-ray Topographic Study of Homoepitaxial Diamond Layer
同质外延金刚石层的 X 射线形貌研究
同质外延金刚石层的 X 射线形貌研究
DOI：
--
发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
--
作者：
[加藤有香子, 梅澤仁, 鹿田真一]
通讯作者：
鹿田真一
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