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Development of basic technology for Ge-CMOS integratable high-performance Ge optical devices

Development of basic technology for Ge-CMOS integratable high-performance Ge optical devices
Ge-CMOS可集成高性能Ge光学器件基础技术开发
批准号:
26289090
负责人:
Wang Dong
金额:
$10.73万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份:
2014
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2014-04-01 至 2017-03-31

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PtGe-Source/Drain Ge p-MOSFET with High On/Off Ratio and Low Parasitic Resistance
具有高开/关比和低寄生电阻的 PtGe-源极/漏极 Ge p-MOSFET
DOI: --
发表时间: 2015
期刊:
影响因子: --
作者: [Shintaro Tanaka, Yuta Nagatomi, Yuichi Nagaoka, Keisuke Yamamoto, Dong Wang, Hiroshi Nakashima]
通讯作者: Hiroshi Nakashima
Influences of Metal/Ge Contact and Surface Passivation on Light Emission and Detection for Asymmetric Metal/Ge/Metal Diodes
金属/Ge接触和表面钝化对不对称金属/Ge/金属二极管发光和检测的影响
DOI: --
发表时间: 2015
期刊:
影响因子: --
作者: [Takayuki Maekura, Dong Wang, Keisuke Yamamoto, Hiroshi Nakashima]
通讯作者: Hiroshi Nakashima
Fermi level pinning alleviation at the TiN, ZrN, and HfN/Ge interfaces
TiN、ZrN 和 HfN/Ge 界面处的费米能级钉扎减轻
DOI: --
发表时间: 2014
期刊:
影响因子: --
作者: [K. Yamamoto, D. Wang, H. Nakashima]
通讯作者: H. Nakashima
Mechanism of mobility enhancement in Ge p-channel metal-oxide-semiconductor field-effect transistor due to introduction of Al atoms into SiO2/GeO2 gate stack
SiO2/GeO2栅堆叠中引入Al原子提高Ge p沟道金属氧化物半导体场效应晶体管迁移率的机制
DOI: 10.1016/j.mssp.2016.11.014
发表时间: 2016
期刊: Materials Science in Semiconductor Processing
影响因子: 4.1
作者: [Y. Nagatomi, T. Tateyama, S. Tanaka, W.-C. Wen, T. Sakaguchi, K. Yamamoto, L. Zhao, D. Wang, and H. Nakashima]
通讯作者: and H. Nakashima
共 56 条
    Performance enhancement for Ge optical devices by applying local strain to Ge-On-Insulator substrates
    • 批准号:
      17H03237
    • 项目类别:
      Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
    • 资助金额:
      $11.81万
    • 财政年份:
      2017
    • 负责人:
      Wang Dong
    • 依托单位: