Establishment of analysis of single nanowire by atom probe tomography in combination with transmission electron microscopy
Establishment of analysis of single nanowire by atom probe tomography in combination with transmission electron microscopy
原子探针断层扫描结合透射电子显微镜分析单纳米线的建立
批准号：
15H05413
负责人：
Shimizu Yasuo
金额：
$15.48万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Young Scientists (A)
财政年份：
2015
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2015-04-01 至 2018-03-31
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Atom probe tomographic assessment of the distribution of germanium atoms implanted in a silicon matrix through nano-apertures
通过纳米孔径注入硅基体中的锗原子分布的原子探针断层扫描评估
通过纳米孔径注入硅基体中的锗原子分布的原子探针断层扫描评估
DOI：
10.1088/1361-6528/aa7f49
发表时间：
2017
期刊：
Nanotechnology
影响因子：
3.5
作者：
[Tu Y, Han B, Shimizu Y, Inoue K, Fukui Y, Yano M, Tanii T, Shinada T, Nagai Y]
通讯作者：
Nagai Y
Atom probe study of semiconductor-based nanostructure
半导体纳米结构的原子探针研究
半导体纳米结构的原子探针研究
DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Y. Sato, S. Baba, C. Juenger, S. Matsuo, H. Kamata, K. Li, H.Q. Xu, C. Schoenenberger, S. Tarucha, Y. Shimizu]
通讯作者：
Y. Shimizu
先端デバイス開発のための３次元アトムプローブ分析技術の応用例
3D原子探针分析技术在先进器件开发中的应用实例
3D原子探针分析技术在先进器件开发中的应用实例
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
作者：
[S. Ryuzaki, K. Terada, N. Saito, K. Okamoto and K. Tamada, 清水康雄]
通讯作者：
清水康雄
Boron distributions in individual core-shell Ge/Si and Si/Ge heterostructured nanowires
单个核壳 Ge/Si 和 Si/Ge 异质结构纳米线中的硼分布
单个核壳 Ge/Si 和 Si/Ge 异质结构纳米线中的硼分布
DOI：
10.1039/c6nr04384d
发表时间：
2016
期刊：
Nanoscale
影响因子：
6.7
作者：
[B. Han, Y. Shimizu, J. Wipakorn, K. Nishibe, Y. Tu, K. Inoue, N. Fukata, Y. Nagai]
通讯作者：
Y. Nagai
Influence of laser power on atom probe tomographic analysis of boron distribution in silicon
激光功率对硅中硼分布原子探针断层分析的影响
激光功率对硅中硼分布原子探针断层分析的影响
DOI：
10.1016/j.ultramic.2016.11.023
发表时间：
2017
期刊：
Ultramicroscopy
影响因子：
2.2
作者：
[Y. Tu, H. Takamizawa, B. Han, Y. Shimizu, K. Inoue, T. Toyama, F. Yano, A. Nishida, Y. Nagai]
通讯作者：
Y. Nagai
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