サファイア上高品質テルル化亜鉛薄膜の開発と電気光学効果テラヘルツ波検出素子応用
サファイア上高品質テルル化亜鉛薄膜の開発と電気光学効果テラヘルツ波検出素子応用
批准号:
15J09135
负责人:
中須 大蔵
金额:
$1.47万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for JSPS Fellows
财政年份:
2015
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2015-04-24 至 2017-03-31
中文摘要
電気光学効果を利用したテラヘルツ波検知器の実現に向けて、サファイア基板上に面方位を制御した高品質テルル化亜鉛(ZnTe)薄膜を作製することを目指した。また、サファイア基板上へのZnTeの結晶成長機構の解明も目指した。ZnTeの結晶成長機構の解明のため、7種類の異なる面方位サファイア基板上にZnTeを結晶成長させ、結晶方位の評価を行った。その結果、サファイア(0001)//ZnTe(111)の方位関係を保って結晶が成長する機構とサファイア(11-20)//ZnTe(111)の方位関係を保つ結晶成長機構が発見されている。しかしながらZnTe(110)の成長が期待できる基板を用いた場合では、これらの規則通りとはならなかったことを見出している。これらの結果より、サファイア基板上ZnTe薄膜の成長機構を明らかにした。また、基板に微小な傾きを導入し、さらに基板を熱処理することで、ZnTe薄膜の高品質化が達成されるという結果が得られた。一方、m面は熱処理すると、2種類の異なる面が表面に現れたナノファセット構造が得られ、そのナノファセット基板上ZnTe薄膜はナノファセット由来の結晶成長が現れ、良い結晶が得られた。他にも化学処理をおこなったサファイア基板がZnTe薄膜の結晶成長に与える影響や基板と薄膜の間に堆積させるバッファ層の複数層化がZnTe薄膜へ与える影響などを調査した。これらの方法により基板表面状態や界面状態を制御することで、ZnTe薄膜の高品質化を達成した。選択横成長による更なる転位数の減少を目指し、二酸化ケイ素でパターン状に覆ったサファイア基板上ZnTe薄膜の選択成長の検討を行った。50nmの厚みを持つパターンを形成したサファイア基板では、350度でZnの分子線が強く、成長速度を遅くしたときに、選択成長することが明らかになった。
英文摘要
電気光学効果を利用したテラヘルツ波検知器の実現に向けて、サファイア基板上に面方位を制御した高品質テルル化亜鉛(ZnTe)薄膜を作製することを目指した。また、サファイア基板上へのZnTeの結晶成長機構の解明も目指した。ZnTeの結晶成長機構の解明のため、7種類の異なる面方位サファイア基板上にZnTeを結晶成長させ、結晶方位の評価を行った。その結果、サファイア(0001)//ZnTe(111)の方位関係を保って結晶が成長する機構とサファイア(11-20)//ZnTe(111)の方位関係を保つ結晶成長機構が発見されている。しかしながらZnTe(110)の成長が期待できる基板を用いた場合では、これらの規則通りとはならなかったことを見出している。これらの結果より、サファイア基板上ZnTe薄膜の成長機構を明らかにした。また、基板に微小な傾きを導入し、さらに基板を熱処理することで、ZnTe薄膜の高品質化が達成されるという結果が得られた。一方、m面は熱処理すると、2種類の異なる面が表面に現れたナノファセット構造が得られ、そのナノファセット基板上ZnTe薄膜はナノファセット由来の結晶成長が現れ、良い結晶が得られた。他にも化学処理をおこなったサファイア基板がZnTe薄膜の結晶成長に与える影響や基板と薄膜の間に堆積させるバッファ層の複数層化がZnTe薄膜へ与える影響などを調査した。これらの方法により基板表面状態や界面状態を制御することで、ZnTe薄膜の高品質化を達成した。選択横成長による更なる転位数の減少を目指し、二酸化ケイ素でパターン状に覆ったサファイア基板上ZnTe薄膜の選択成長の検討を行った。50nmの厚みを持つパターンを形成したサファイア基板では、350度でZnの分子線が強く、成長速度を遅くしたときに、選択成長することが明らかになった。
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Influence of nano-facet structures on the orientation of the ZnTe film on sapphire substrate
纳米面结构对蓝宝石衬底上ZnTe薄膜取向的影响
DOI:
--
发表时间:
2016
期刊:
影响因子:
--
作者:
[T. Nakasu, W. Sun, M. Kobayashi, T. Asahi]
通讯作者:
T. Asahi
MBE法により作製されたサファイア基板上ZnTe薄膜の結晶性評価
MBE法蓝宝石衬底上ZnTe薄膜的结晶度评价
DOI:
--
发表时间:
2016
期刊:
影响因子:
--
作者:
[玉川陽菜, 中須大蔵, 服部翔太, 木津健, 橋本勇輝, 小高圭佑, 山本洋輔, 孫惟哲, 風見蕗乃, 王兢, 小林正和, 朝日聡明]
通讯作者:
朝日聡明
SiO2マスクを用いたサファイア基板上ZnTeの選択成長
使用 SiO2 掩模在蓝宝石衬底上选择性生长 ZnTe
DOI:
--
发表时间:
2015
期刊:
影响因子:
--
作者:
[服部翔太, 中須大蔵, 橋本勇輝, 木津健, 孫惟哲, 風見蕗乃, 小林正和, 朝日聡明]
通讯作者:
朝日聡明
Growth and Crystal Orientation of ZnTe on m-Plane Sapphire with Nano-faceted Structure
纳米面结构 m 面蓝宝石上 ZnTe 的生长和晶体取向
DOI:
10.1007/s11664-016-5165-2
发表时间:
2017
期刊:
Journal of Electronic Materials
影响因子:
2.1
作者:
[T. Nakasu, W. Sun, M. Kobayashi, and T. Asahi]
通讯作者:
and T. Asahi
Epitaxial Relationship Analysis between ZnTe Epilayers and Sapphire Substrates
ZnTe外延层与蓝宝石衬底的外延关系分析
DOI:
10.1007/s11664-016-4700-5
发表时间:
2016
期刊:
Journal of Electronic Materials
影响因子:
2.1
作者:
[T. Nakasu, T. Aiba, S. Yamashita, S. Hattori, T. Kizu, W. Sun, K. Taguri, F. Kazami, Y. Hashimoto, S. Ozaki, M. Kobayashi, and T. Asahi]
通讯作者:
and T. Asahi
共 26 条
時間空間分解陰極線蛍光分光法による広禁制帯幅半導体微細構造の発光ダイナミクス研究
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批准号:20J00428
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项目类别:Grant-in-Aid for JSPS Fellows
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资助金额:$2.58万
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财政年份:2020
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负责人:中須 大蔵
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依托单位:
海外基金