Magnetic interface properties of new materials with high spin polarization

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Im vorgeschlagenen Forschungsprojekt soll die für die SpinElektronik wichtige Grenzflächenmagnetisierung von neuen Materialien mit hoher Spinpolarisation bestimmt werden. Der Ansatz stützt sich dabei auf 2 Messmethoden, Torsions-OszillationsMagnetometrie sowie Zirkulardichroimus in der Röntgenabsorption. Mit Hilfe von TOM soll an Hand von Schichtserien mit variabler Dicke und Deckschicht, die präpariert werden, die Magnetisierung separiert nach Volumen- und Grenzflächenanteilen bestimmt werden. Durch Messungen bei variabler Temperatur im Bereich 30-500 K werden Grenzflächenbeiträge, die auch im Grundzustand (T = 0K) präsent sind unterschieden von temperaturabhängigen Beiträgen auf Grund der eingeschränkten Geometrie ultradünner Schichten (size effect). Die Grenzflächenmagnetisierung ist entscheidend für die Interpretation von TMR-Effekten hinsichtlich der Spinpolarisation. XMCD an den L-Kanten dient zur Bestimmung relativer elementspezifischer magnetischer Momente, aufgelöst nach Spin- und Bahnmomentanteil. Mit dieser Methode sollen neben ultradünnen Heusler-Filmen Volumenproben von Heusler-Verbindungen und Doppelperowskiten (Rhenaten) untersucht werden. Die elementspezifische Information magnetischer Momente lässt sich unmittelbar mit theoretischen vergleichen. Die Änderung des Bahnmomentes als Funktion der Magnetisierungsrichtung stellt eine komplementäre Information zur direkt bestimmten magnetischen Anisotropie dar.