Streulichtsimulation der Total Internal Reflection Microscopy (TIRM) Messtechnik

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Total Internal Reflection Microscopy (TIRM) ist eine neue vielseitige optische Methode, um die Kräfte zwischen einem einzelnen Partikel und einer Oberfläche auf Basis der evaneszenten Lichtstreuung zu messen. Um die Kräfte genau bestimmen zu können, muss die Detektorintensität aufgetragen über den Partikelabstand durch ein exaktes Streulichtmodell berechnet werden. Der Einfluss des Partikeldurchmessers und des Materials des Partikels ist dabei zu berücksichtigen. In diesem Projekt soll ein Simulationsmodell entwickelt werden, das auf der "Discrete Source Method" beruht. Die "Discrete Sources Method" ist eine feldtheoretisch exakte, flexible Methode zur Berechnung der Lichtstreuung an nichtsphärischen Partikeln auf einer planaren beschichteten Oberfläche, die die Vielfachreflexionen zwischen Partikeln und planarer Oberfläche berücksichtigt. Ziel des Projektes ist die Berechnung der evaneszenten Lichtstreuung an einer Partikel auf einer planaren Oberfläche, wobei die Partikel und die Oberfläche eine komplizierte Struktur besitzen, um Messverfahren für die weitere Entwicklung von TIRM zu erforschen. Dieses umfasst nichtsphärische Partikeln, schalenförmige Partikeln, nicht homogene Partikeln, eine planare Oberfläche mit einem dielektrischen oder einem metallischen Film. Anmerkung der Geschätsstelle: Dieser Antrag wurde gemeinsam mit dem Antrag von Dr. Helden (HE 4520/1-1), Stuttgart, eingereicht.