Nano particle sizing method based on the Brownian motion analysis using fluorescent nano probe
Nano particle sizing method based on the Brownian motion analysis using fluorescent nano probe
基于荧光纳米探针布朗运动分析的纳米粒径测定方法
批准号：
16H04249
负责人：
Terutake Hayashi
金额：
$11.15万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份：
2016
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2016-04-01 至 2019-03-31
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蛍光プローブを用いたナノ粒子粒径計測に関する研究 ～第3報 蛍光プローブの並進拡散係数の評価～
使用荧光探针测量纳米颗粒尺寸的研究 - 第 3 次报告 荧光探针平移扩散系数的评估 -
使用荧光探针测量纳米颗粒尺寸的研究 - 第 3 次报告 荧光探针平移扩散系数的评估 -
DOI：
--
发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
作者：
[古川達也, 萩原晃平, 高野直樹, 春山大地, 草場博喜，林照剛，黒河周平]
通讯作者：
草場博喜，林照剛，黒河周平
蛍光ナノプローブを用いたブラウン運動解析に基づくナノ粒子粒径計測（第3報）
使用荧光纳米探针基于布朗运动分析的纳米颗粒尺寸测量（第三次报告）
使用荧光纳米探针基于布朗运动分析的纳米颗粒尺寸测量（第三次报告）
DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Terutake Hayashi, Syuhei KUROKAWA and Zhu Jiaqing, 林照剛，世利俊樹，黒河周平，松川洋二]
通讯作者：
林照剛，世利俊樹，黒河周平，松川洋二
A novel Particle Sizing method for Nano-abrasives in CMP Slurry by Using Fluorescent Nano Probe
一种利用荧光纳米探针对 CMP 浆料中纳米磨料进行粒度测量的新方法
一种利用荧光纳米探针对 CMP 浆料中纳米磨料进行粒度测量的新方法
DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
International Journal of Automation Technology
影响因子：
1.1
作者：
[Terutake Hayashi, Toshiki Seri, and Syuhei Kurokawa]
通讯作者：
and Syuhei Kurokawa
A novel nano particle characterizing method using nano particle micro array
一种利用纳米颗粒微阵列表征纳米颗粒的新型方法
一种利用纳米颗粒微阵列表征纳米颗粒的新型方法
DOI：
--
发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
作者：
[Terutake Hayashi, Syuhei KUROKAWA and Zhu Jiaqing]
通讯作者：
Syuhei KUROKAWA and Zhu Jiaqing
蛍光プローブを用いた高精度ナノ粒子径計測に関する研究
荧光探针高精度纳米颗粒尺寸测量研究
荧光探针高精度纳米颗粒尺寸测量研究
DOI：
--
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
--
作者：
[野瀬達人, 高野直樹, 瀧澤英男, 草場博喜，林照剛，黒河周平，赤星圭将, 赤星 圭将，林 照剛，黒河 周平，草場 博喜]
通讯作者：
赤星 圭将，林 照剛，黒河 周平，草場 博喜
共 11 条
Laser processing for transparent substrate using double pulse femto second laser beam with photo excitation
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批准号：17K18831
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项目类别：Grant-in-Aid for Challenging Research (Exploratory)
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资助金额：$4.08万
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财政年份：2017
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负责人：Terutake Hayashi
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依托单位：
海外基金