Rastersondenmikroskopie und -spektroskopie von ungeordneten Oberflächen

这是一个很好的例子。玻璃和陶瓷。这两个项目是，通过使用光栅隧道显微镜（STM）、光栅隧道显微镜（STS）和接触式（C-AFM）和非接触式（NC-AFM）的光栅扫描显微镜（Rasterkraftmikroscopie）等多种方法进行验证，从而为Festkörpern的结构设计提供了基础，或者仅提供了参考。在超高真空（UHV）中进行无组织和有组织的试验，并通过在韦尔登过程中使用两个原子的Auflösung来进行无污染的Oberflächen RastersondenBildern。结构参数的确定主要是通过结构参数的确定、连接和协调来实现的。结构参数的确定主要是通过STM和AFM的结构参数确定和调整来实现的，结构参数的调整主要是通过化学验证和几何验证来实现的。局部电场处理（STS），因此具有局部静电Oberflächenpotential。

Wichtige Stoffklassen und Materialien sind nichtkristallin, wie z.B. Gläser und Keramiken. Ziel dieses Projektes ist es, durch die Anwendung verschiedener Varianten rastersondenmikroskopischer Methoden wie Rastertunnelmikroskopie (STM), Rastertunnelspektroskope (STS) und Rasterkraftmikroskopie im contact- (C-AFM) und non-contact-Modus (NC-AFM), einen grundlegenden Beitrag zur Strukturaufklärung von Festkörpern ohne oder nur geringer Fernordnung zu leisten. Dazu sollen anorganische und organische Proben im Ultrahochvakuum (UHV) gebrochen und von den entstehenden kontaminationsfreien Oberflächen RastersondenBildern mit bis zu atomarer Auflösung unter verschiedenen Abbildungsbedingungen sowie nach thermischer Behandlung aufgenommen werden. Deren Auswertung liefert neben kurzreichweitigen Strukturparametern, wie Bindungslängen, Bindungswinkeln und Koordinationszahlen auch Informationen über Strukturmotive der mittel- bis langreichweitigen Anordnung und Verknüpfungsregeln in amorphen Netzwerken (STM, AFM) und deren Veränderung bei einsetzender Rekristallisation, über die chemische Verteilung und ggf. lokale Entmischungsprozesse (STS), sowie über lokale elektrostatische Oberflächenpotentiale.