Rastersondenmikroskopie und -spektroskopie von ungeordneten Oberflächen

无序表面的扫描探针显微镜和光谱学

• 批准号: 5443698
• 负责人: Professor Dr. Klaus Wandelt
• 金额: --
• 依托单位: Clausius-Institut für Physikalische und Theoretische Chemie
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Research Grants
• 财政年份: 2004
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 2003-12-31 至 2009-12-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/5443698?language=en
• 关键词: Rastersondenmikroskopie; und; spektroskopie; von; ungeordneten

Wichtige Stoffklassen und Materialien sind nichtkristallin, wie z.B. Gläser und Keramiken. Ziel dieses Projektes ist es, durch die Anwendung verschiedener Varianten rastersondenmikroskopischer Methoden wie Rastertunnelmikroskopie (STM), Rastertunnelspektroskope (STS) und Rasterkraftmikroskopie im contact- (C-AFM) und non-contact-Modus (NC-AFM), einen grundlegenden Beitrag zur Strukturaufklärung von Festkörpern ohne oder nur geringer Fernordnung zu leisten. Dazu sollen anorganische und organische Proben im Ultrahochvakuum (UHV) gebrochen und von den entstehenden kontaminationsfreien Oberflächen RastersondenBildern mit bis zu atomarer Auflösung unter verschiedenen Abbildungsbedingungen sowie nach thermischer Behandlung aufgenommen werden. Deren Auswertung liefert neben kurzreichweitigen Strukturparametern, wie Bindungslängen, Bindungswinkeln und Koordinationszahlen auch Informationen über Strukturmotive der mittel- bis langreichweitigen Anordnung und Verknüpfungsregeln in amorphen Netzwerken (STM, AFM) und deren Veränderung bei einsetzender Rekristallisation, über die chemische Verteilung und ggf. lokale Entmischungsprozesse (STS), sowie über lokale elektrostatische Oberflächenpotentiale.

Wichtige Stoffklassen和Materialien & night kristallin， wiz . b . Gläser和Keramiken。[2] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1] [1]大祖solsolen有机体和有机体问题超真空（UHV） gebrochen和von enstersondenbildern和von ensterenderen污染问题研究中心Oberflächen RastersondenBildern和他的dna研究中心Auflösung unterschiedenen Abbildungsbedingungen sowie每一个热科学研究中心Behandlung aufgenommen werden。Deren Auswertung liefert neben kurzreichwetigen strukturparameter, wie Bindungslängen, Bindungswinkeln and ordinationszahlen auch Informationen ber strukmortive der mittel- bis langreichwetigen Anordnung and verkn<s:1> pfungsregeln in amorphen Netzwerken (STM， AFM) and Deren Veränderung beeinsetzender recrystal, ber die chemische verilung und ggf。lokale Entmischungsprozesse (STS), sowie; lokale elektrostatische Oberflächenpotentiale。