Rastersondenmikroskopie und -spektroskopie von ungeordneten Oberflächen

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Wichtige Stoffklassen und Materialien sind nichtkristallin, wie z.B. Gläser und Keramiken. Ziel dieses Projektes ist es, durch die Anwendung verschiedener Varianten rastersondenmikroskopischer Methoden wie Rastertunnelmikroskopie (STM), Rastertunnelspektroskope (STS) und Rasterkraftmikroskopie im contact- (C-AFM) und non-contact-Modus (NC-AFM), einen grundlegenden Beitrag zur Strukturaufklärung von Festkörpern ohne oder nur geringer Fernordnung zu leisten. Dazu sollen anorganische und organische Proben im Ultrahochvakuum (UHV) gebrochen und von den entstehenden kontaminationsfreien Oberflächen RastersondenBildern mit bis zu atomarer Auflösung unter verschiedenen Abbildungsbedingungen sowie nach thermischer Behandlung aufgenommen werden. Deren Auswertung liefert neben kurzreichweitigen Strukturparametern, wie Bindungslängen, Bindungswinkeln und Koordinationszahlen auch Informationen über Strukturmotive der mittel- bis langreichweitigen Anordnung und Verknüpfungsregeln in amorphen Netzwerken (STM, AFM) und deren Veränderung bei einsetzender Rekristallisation, über die chemische Verteilung und ggf. lokale Entmischungsprozesse (STS), sowie über lokale elektrostatische Oberflächenpotentiale.