中間バンド型Ge量子ドット太陽電池の実現に向けた量子ドットの形成・積層
量子点的形成和堆叠以实现中带Ge量子点太阳能电池
基本信息
- 批准号:16J01701
- 负责人:
- 金额:$ 1.47万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for JSPS Fellows
- 财政年份:2016
- 资助国家:日本
- 起止时间:2016-04-22 至 2018-03-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
本研究では、カーボン(C)媒介を利用したGe量子ドット(QD)の形成と、Si1-xCx歪補償層導入による歪フリー積層を実現し、高効率中間バンド型Ge QD太陽電池形成の基盤技術を確立する。本年度は2年計画の最終年度として、C媒介とSi1-xCx歪補償層を利用した歪フリーGe QD積層について検討した。1.Si1-xCxスペーサ上のQD形成において、QD/Si1-xCxスペーサ界面に0.25原子層以上のCを媒介することで、1層目のQDとほぼ同じ粒径のQDをSi1-xCxスペーサ上に形成できることを見出し、QDがVolmer-Weberモードで成長した孤立ドットであることを明らかにした。また、QD形成機構の解析に、ケルビンプローブ顕微法と低角入射インプレーンX線回折法を導入し、Si1-xCxスペーサ表面の圧縮歪によるGe/Si1-xCx界面の格子不整合の増大により、C媒介によるQD縮小効果が増大することを解明した。2.積層構造の形成において、C含有量=1.5 at.%のSi1-xCx歪補償スペーサを利用して、QD/スペーサの積層ペア毎にQD内の圧縮応力を緩和することによって、多重積層により生じるQDの肥大化を抑制し、歪フリーで多重積層できることを実証した。これらは、混晶組成の自由度が小さいIV族系半導体において、QDとSi1-xCxスペーサを組合せて歪制御することによって、III-VもしくはII-VI族系半導体と同様に、QDを必要に応じて積層できることを示した重要な成果である。これらの結果は、中間バンド型Ge QD太陽電池を形成するための基盤技術だけなく、高効率発光素子の形成にも応用が期待できる。本研究で確立したC媒介と歪補償に基づくGe QD積層法は、中間バンド型Ge QD太陽電池形成の基盤技術であり、今後、これらの知見が十二分に活かせると考えている。
在这项研究中,我们将通过引入SI1-XCX应变补偿层来实现GE量子点(QD)的形成,并通过引入无应变的堆叠形成,建立了基本技术,以形成高效中等中间体带GE QD太阳能电池。今年,作为两年计划的最后一年,我们使用C介导的和SI1-XCX应变补偿层讨论了无应变的GE QD堆叠。 1。我们发现,在SI1-XCX间隔仪上的QD形成中,通过在QD/SI1-XCX间隔界面上介导0.25个原子层或更多的cD,与第一层中QD几乎相同的粒度的QD可以在SI1-XCX-xcx间距和模式下均可形成QD,并在si1-xcx-spacer和subled subled the s ny Modeed worsed worsed worser vers grows grows。此外,引入了开尔文探针显微镜和低角度的发病率来分析QD形成机制,并发现由于SI1-XCX间距表面上的压缩应变而导致的GE/SI1-XCX界面上的晶格不匹配增加增加了C-MIDED QD的效应。 2。在形成层压结构时,我们已经证明,通过使用C含量为1.5 at的C含量为1.5%的SI1-XCX应变补偿垫片,对于每条堆叠的QD/垫片QD的压缩应力,可以抑制由多堆叠而引起的QD的膨胀,并且可以在没有应变的情况下实现多个堆叠。这些重要的结果表明,在混合晶体组成中具有较小自由度的第四组半导体中,可以根据需要堆叠QD,就像IIII-V或II-VI半导体一样,通过将QD与SI1-XCX间隔组相结合。这些结果不仅可以应用于形成中间带类型GE QD太阳能电池的基本技术,还可以应用于高效发光设备的形成。基于C介导和应变补偿的GE QD堆叠方法是形成中间带GE QD太阳能电池的基础技术,并且我们认为这些发现将来将在未来得到充分利用。
项目成果
期刊论文数量(0)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Strain Distribution Analysis of Self-Ordered SiGe Nanodot Structures by Nano Beam Diffraction
利用纳米束衍射分析自序 SiGe 纳米点结构的应变分布
- DOI:
- 发表时间:2018
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:M. A. Schubert;Y. Yamamoto;Y. Itoh;P. Zaumseil;G. Capellini;K. Washio;and B. Tillack
- 通讯作者:and B. Tillack
Influence of crystallinity of as-deposited Ge film on formation of quantum dot in carbon-mediated solid-phase epitaxy
- DOI:10.1016/j.mssp.2016.11.025
- 发表时间:2017-11
- 期刊:
- 影响因子:4.1
- 作者:Kaito Takeshima;Y. Itoh;T. Kawashima;K. Washio
- 通讯作者:Kaito Takeshima;Y. Itoh;T. Kawashima;K. Washio
c面サファイア基板上Ge(111)薄膜の二段階成長
c面蓝宝石衬底上两步生长Ge(111)薄膜
- DOI:
- 发表时间:2016
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:河口 大和;伊藤 友樹;川島 知之;鷲尾 勝由
- 通讯作者:鷲尾 勝由
Formation and Strain Analysis of Stacked Ge Quantum Dots With Strain-Compensating Si1-xCx Spacer
具有应变补偿 Si1-xCx 间隔物的堆叠 Ge 量子点的形成和应变分析
- DOI:10.1002/pssc.201700197
- 发表时间:2017
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Y. Itoh;T. Kawashima;K. Washio
- 通讯作者:K. Washio
固相成長によるC媒介Ge量子ドットの積層構造の検討
固相生长研究碳介导的Ge量子点的堆叠结构
- DOI:
- 发表时间:2018
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:井上 友貴;武島 開斗;伊藤 友樹;川島 知之;鷲尾 勝由
- 通讯作者:鷲尾 勝由
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