课题基金 / 基金详情

Shift-Power-Safe Scan Test Methodology for High-Quality Low-Power LSI Circuits

Shift-Power-Safe Scan Test Methodology for High-Quality Low-Power LSI Circuits
适用于高质量低功耗 LSI 电路的移位电源安全扫描测试方法
批准号：
17H01716
负责人：
Wen Xiaoqing
金额：
$11.56万
依托单位：
Kyushu Institute of Technology
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份：
2017
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2017-04-01 至 2021-03-31
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-17H01716/
关键词：
計算機システム電子デバイス・機器ディペンダブル・コンピューティングシフトエラーIR-Dropシフトタイミングテストクロックグルーピングディペンダブル・コンピュータディペンダブル・コンピュー

项目摘要

项目成果

Wen Xiaoqing的其他基金

相关文献

中文摘要
翻译
点击翻译按钮获取中文摘要
英文摘要
期刊论文(0)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption
用于减轻 IR 压降引起的测试数据损坏的扫描链分组
DOI： 10.1109/ats.2017.37
发表时间： 2017
期刊： Proc. IEEE Asian Test Symposium
影响因子： --
作者： [Yucong Zhang, Stefan Holst, Xiaoqing Wen, Kohei Miyase, Seiji Kajihara, Jun Qian]
通讯作者： Jun Qian
A Static Method for Analyzing Hotspot Distribution on the LSI
分析LSI热点分布的静态方法
DOI： --
发表时间： 2019
期刊：
影响因子： --
作者： [Kohei Miyase, Yudai Kawano, Shyue-Kung Lu, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara]
通讯作者： Seiji Kajihara
Single-Event Double-Upset Self-Recoverable and Single-Event Transient Pulse Filterable Latch Design for Low Power Applications
DOI： 10.23919/date.2019.8714841
发表时间： 2019-03
期刊： 2019 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)
影响因子： --
作者： [Aibin Yan;Yuanjie Hu;Jie Song;X. Wen]
通讯作者： Aibin Yan;Yuanjie Hu;Jie Song;X. Wen
安徽大学(中国)
安徽大学（中国）
DOI： --
发表时间：
期刊：
影响因子： --
作者： []
通讯作者：
共 8 条
    Research on High-Quality Test Method for Avoiding False Testing of Next-Generation Low-Power LSIs
    • 批准号：
      15K12003
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
    • 资助金额：
      $2.16万
    • 财政年份：
      2015
    • 负责人：
      Wen Xiaoqing
    • 依托单位：
      Kyushu Institute of Technology