Shift-Power-Safe Scan Test Methodology for High-Quality Low-Power LSI Circuits
适用于高质量低功耗 LSI 电路的移位电源安全扫描测试方法
基本信息
- 批准号:17H01716
- 负责人:
- 金额:$ 11.56万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
- 财政年份:2017
- 资助国家:日本
- 起止时间:2017-04-01 至 2021-03-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
项目成果
期刊论文数量(0)
专著数量(0)
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会议论文数量(0)
专利数量(0)
Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption
用于减轻 IR 压降引起的测试数据损坏的扫描链分组
- DOI:10.1109/ats.2017.37
- 发表时间:2017
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Yucong Zhang;Stefan Holst;Xiaoqing Wen;Kohei Miyase;Seiji Kajihara;Jun Qian
- 通讯作者:Jun Qian
A Static Method for Analyzing Hotspot Distribution on the LSI
分析LSI热点分布的静态方法
- DOI:
- 发表时间:2019
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Kohei Miyase;Yudai Kawano;Shyue-Kung Lu;Xiaoqing Wen;Seiji Kajihara
- 通讯作者:Seiji Kajihara
Single-Event Double-Upset Self-Recoverable and Single-Event Transient Pulse Filterable Latch Design for Low Power Applications
- DOI:10.23919/date.2019.8714841
- 发表时间:2019-03
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Aibin Yan;Yuanjie Hu;Jie Song;X. Wen
- 通讯作者:Aibin Yan;Yuanjie Hu;Jie Song;X. Wen
Bit-flip errors detection using random partial don't-care keys for a soft-error-tolerant TCAM
使用随机部分无关密钥进行位翻转错误检测以实现软容错 TCAM
- DOI:
- 发表时间:2018
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:I. Syafalni;T. Sasao;and X. Wen
- 通讯作者:and X. Wen
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Wen Xiaoqing其他文献
Novel Low Cost, Double-and-Triple-Node-Upset-Tolerant Latch Designs for Nano-scale CMOS
适用于纳米级 CMOS 的新型低成本、双节点和三节点翻转容错锁存器设计
- DOI:
10.1109/tetc.2018.2871861 - 发表时间:
2018-09 - 期刊:
- 影响因子:5.9
- 作者:
Yan Aibin;Lai Chaoping;Zhang Yinlei;Cui Jie;Huang Zhengfeng;Song Jie;Guo Jing;Wen Xiaoqing - 通讯作者:
Wen Xiaoqing
First passage times and minimum actions for a stochastic minimal bistable system
随机最小双稳态系统的首次通过时间和最小动作
- DOI:
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2019 - 期刊:
- 影响因子:5
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A spatiotemporal master equation model of morphogen transport: Local accumulation times, noise measurement and diffusion force
形态发生素传输的时空主方程模型:局部累积时间、噪声测量和扩散力
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10.1016/j.cjph.2018.03.030 - 发表时间:
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- 影响因子:5
- 作者:
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Quadruple Cross-Coupled Dual-Interlocked-Storage-Cells-Based Multiple-Node-Upset-Tolerant Latch Designs
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2020-01 - 期刊:
- 影响因子:5.1
- 作者:
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Discrete Weighted Pseudo Almost Automorphic Solutions of Nonautonomous Difference Equations
非自治差分方程的离散加权伪几乎自同构解
- DOI:
10.1155/2016/5827483 - 发表时间:
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- 影响因子:1.4
- 作者:
Wen Xiaoqing;Yin Hongwei - 通讯作者:
Yin Hongwei
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下一代低功耗LSI避免误测的高质量测试方法研究
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相似海外基金
Tackling Waste Electrical and Electronic Equipment (WEEE) in the UK
处理英国的废弃电气和电子设备 (WEEE)
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$ 11.56万 - 项目类别:
Fellowship
Development of a multi-axis cone beam CT for accurate non-destructive testing of electronic equipment
开发用于电子设备精确无损检测的多轴锥形束CT
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$ 11.56万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
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487371-2015 - 财政年份:2020
- 资助金额:
$ 11.56万 - 项目类别:
Industrial Research Chairs for Colleges Grants
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当带电体远离浮动电位的未接地电子设备时,电子设备中产生的静电感应电压
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18K04107 - 财政年份:2018
- 资助金额:
$ 11.56万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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Thor - 有效净化敏感电子设备以防止医院获得性感染
- 批准号:
104403 - 财政年份:2018
- 资助金额:
$ 11.56万 - 项目类别:
Collaborative R&D
NSERC Industrial Research Chair for Colleges in Advanced Recycling Technologies for Waste Electrical and Electronic Equipment
NSERC 大学废旧电气电子设备先进回收技术工业研究主席
- 批准号:
487371-2015 - 财政年份:2018
- 资助金额:
$ 11.56万 - 项目类别:
Industrial Research Chairs for Colleges Grants
NSERC Industrial Research Chair for Colleges in Advanced Recycling Technologies for Waste Electrical and Electronic Equipment
NSERC 大学废旧电气电子设备先进回收技术工业研究主席
- 批准号:
487371-2015 - 财政年份:2017
- 资助金额:
$ 11.56万 - 项目类别:
Industrial Research Chairs for Colleges Grants
A novel, environmentally friendly process for recycling waste electrical and electronic equipment
一种新颖、环保的废弃电气和电子设备回收工艺
- 批准号:
600352 - 财政年份:2017
- 资助金额:
$ 11.56万 - 项目类别:
EU-Funded
Development of equivalent circuit model required for low-noise designing of safe and secure electrical/electronic equipment
开发安全可靠的电气/电子设备的低噪声设计所需的等效电路模型
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