Shift-Power-Safe Scan Test Methodology for High-Quality Low-Power LSI Circuits

适用于高质量低功耗 LSI 电路的移位电源安全扫描测试方法

基本信息

  • 批准号:
    17H01716
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 11.56万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
  • 财政年份:
    2017
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2017-04-01 至 2021-03-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

项目成果

期刊论文数量(0)
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会议论文数量(0)
专利数量(0)
Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption
用于减轻 IR 压降引起的测试数据损坏的扫描链分组
  • DOI:
    10.1109/ats.2017.37
  • 发表时间:
    2017
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Yucong Zhang;Stefan Holst;Xiaoqing Wen;Kohei Miyase;Seiji Kajihara;Jun Qian
  • 通讯作者:
    Jun Qian
A Static Method for Analyzing Hotspot Distribution on the LSI
分析LSI热点分布的静态方法
  • DOI:
  • 发表时间:
    2019
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Kohei Miyase;Yudai Kawano;Shyue-Kung Lu;Xiaoqing Wen;Seiji Kajihara
  • 通讯作者:
    Seiji Kajihara
Single-Event Double-Upset Self-Recoverable and Single-Event Transient Pulse Filterable Latch Design for Low Power Applications
安徽大学(中国)
安徽大学(中国)
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
Bit-flip errors detection using random partial don't-care keys for a soft-error-tolerant TCAM
使用随机部分无关密钥进行位翻转错误检测以实现软容错 TCAM
  • DOI:
  • 发表时间:
    2018
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    I. Syafalni;T. Sasao;and X. Wen
  • 通讯作者:
    and X. Wen
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Novel Low Cost, Double-and-Triple-Node-Upset-Tolerant Latch Designs for Nano-scale CMOS
适用于纳米级 CMOS 的新型低成本、双节点和三节点翻转容错锁存器设计
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    10.1109/tetc.2018.2871861
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  • 期刊:
  • 影响因子:
    5.9
  • 作者:
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    5
  • 作者:
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  • 通讯作者:
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  • 发表时间:
    2018-06
  • 期刊:
  • 影响因子:
    5
  • 作者:
    Yin Hongwei;Wen Xiaoqing
  • 通讯作者:
    Wen Xiaoqing
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基于四交叉耦合双互锁存储单元的多节点翻转容忍锁存器设计
Discrete Weighted Pseudo Almost Automorphic Solutions of Nonautonomous Difference Equations
非自治差分方程的离散加权伪几乎自同构解

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  • 通讯作者:
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Research on High-Quality Test Method for Avoiding False Testing of Next-Generation Low-Power LSIs
下一代低功耗LSI避免误测的高质量测试方法研究
  • 批准号:
    15K12003
  • 财政年份:
    2015
  • 资助金额:
    $ 11.56万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research

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Tackling Waste Electrical and Electronic Equipment (WEEE) in the UK
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  • 批准号:
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  • 财政年份:
    2024
  • 资助金额:
    $ 11.56万
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    Fellowship
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    2020
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    $ 11.56万
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    2018
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    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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  • 批准号:
    104403
  • 财政年份:
    2018
  • 资助金额:
    $ 11.56万
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    Collaborative R&D
NSERC Industrial Research Chair for Colleges in Advanced Recycling Technologies for Waste Electrical and Electronic Equipment
NSERC 大学废旧电气电子设备先进回收技术工业研究主席
  • 批准号:
    487371-2015
  • 财政年份:
    2018
  • 资助金额:
    $ 11.56万
  • 项目类别:
    Industrial Research Chairs for Colleges Grants
NSERC Industrial Research Chair for Colleges in Advanced Recycling Technologies for Waste Electrical and Electronic Equipment
NSERC 大学废旧电气电子设备先进回收技术工业研究主席
  • 批准号:
    487371-2015
  • 财政年份:
    2017
  • 资助金额:
    $ 11.56万
  • 项目类别:
    Industrial Research Chairs for Colleges Grants
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一种新颖、环保的废弃电气和电子设备回收工艺
  • 批准号:
    600352
  • 财政年份:
    2017
  • 资助金额:
    $ 11.56万
  • 项目类别:
    EU-Funded
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开发安全可靠的电气/电子设备的低噪声设计所需的等效电路模型
  • 批准号:
    16H04318
  • 财政年份:
    2016
  • 资助金额:
    $ 11.56万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
NSERC Industrial Research Chair for Colleges in Advanced Recycling Technologies for Waste Electrical and Electronic Equipment
NSERC 大学废旧电气电子设备先进回收技术工业研究主席
  • 批准号:
    487371-2015
  • 财政年份:
    2016
  • 资助金额:
    $ 11.56万
  • 项目类别:
    Industrial Research Chairs for Colleges Grants
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