Research on High-Quality Test Method for Avoiding False Testing of Next-Generation Low-Power LSIs
Research on High-Quality Test Method for Avoiding False Testing of Next-Generation Low-Power LSIs
下一代低功耗LSI避免误测的高质量测试方法研究
批准号：
15K12003
负责人：
Wen Xiaoqing
金额：
$2.16万
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
财政年份：
2015
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2015-04-01 至 2018-03-31
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On Optimal Power-Aware Path Sensitization
关于最佳功率感知路径敏化
关于最佳功率感知路径敏化
DOI：
10.1109/ats.2016.63
发表时间：
2016
期刊：
2016 IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS)
影响因子：
--
作者：
[Matthias Sauer, Jie Jiang, Sven Reimer, Kohei Miyase, Xiaoqing Wen, Bernd Becker, Ilia Polian]
通讯作者：
Ilia Polian
Logic-Path-and-Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation
逻辑路径和时钟路径感知的全速扫描测试生成
逻辑路径和时钟路径感知的全速扫描测试生成
DOI：
10.1587/transfun.e99.a.2310
发表时间：
2016
期刊：
IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences
影响因子：
--
作者：
[F. Li, X. Wen, K. Miyase, S. Holst, S. Kajihara]
通讯作者：
S. Kajihara
Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption
用于减轻 IR 压降引起的测试数据损坏的扫描链分组
用于减轻 IR 压降引起的测试数据损坏的扫描链分组
DOI：
10.1109/ats.2017.37
发表时间：
2017
期刊：
Proc. IEEE Asian Test Symposium
影响因子：
--
作者：
[Yucong Zhang, Stefan Holst, Xiaoqing Wen, Kohei Miyase, Seiji Kajihara, Jun Qian]
通讯作者：
Jun Qian
Locating Hot Spot with Justification Techniques in a Layout Design
在布局设计中使用合理化技术定位热点
在布局设计中使用合理化技术定位热点
DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
作者：
[K. Miyase, Y. Kawano, X. Wen, S. Kajihara]
通讯作者：
S. Kajihara
Power Supply Noise and Its Reduction in At-Speed Scan Testing
全速扫描测试中的电源噪声及其降低
全速扫描测试中的电源噪声及其降低
DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
作者：
[逢坂美冬, 佐々木智啓, Charles Mejia Cruz, 上野雄大, 大堀淳, X. Wen]
通讯作者：
X. Wen
共 18 条
Shift-Power-Safe Scan Test Methodology for High-Quality Low-Power LSI Circuits
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批准号：17H01716
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项目类别：Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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资助金额：$11.56万
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财政年份：2017
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负责人：Wen Xiaoqing
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依托单位：
海外基金