Research on Silicon Carbide Harsh Environment Electronics
碳化硅恶劣环境电子研究
基本信息
- 批准号:17H03253
- 负责人:
- 金额:$ 11.15万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
- 财政年份:2017
- 资助国家:日本
- 起止时间:2017-04-01 至 2020-03-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
项目成果
期刊论文数量(0)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Gamma-ray irradiation-induced mobility enhancement of 4H-SiC NMOSFETs with a Ba-silicate interface layer
具有硅酸钡界面层的 4H-SiC NMOSFET 的伽马射线辐照诱导迁移率增强
- DOI:10.7567/1347-4065/ab2dab
- 发表时间:2019
- 期刊:
- 影响因子:1.5
- 作者:Kosuke Muraoka;Hiroshi Sezaki;Seiji Ishikawa;Tomonori Maeda;Takahiro Makino;Akinori Takeyama;Takeshi Ohshima and Shin-Ichiro Kuroki
- 通讯作者:Takeshi Ohshima and Shin-Ichiro Kuroki
4H-SiC Pixel Device with UV Photodiode and MOSFETs for Radiation-Hardened UV Image Sensors
具有 UV 光电二极管和 MOSFET 的 4H-SiC 像素器件,用于抗辐射 UV 图像传感器
- DOI:
- 发表时间:2019
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Kenta Nishigaito;Tatsuya Meguro;Akinori Takeyama;Takeshi Ohshima;Yasunori Tanaka and Shin-Ichiro Kuroki
- 通讯作者:Yasunori Tanaka and Shin-Ichiro Kuroki
SiC極限環境エレクトロニクスと放射光による薄膜・界面状態分析
使用同步加速器辐射进行 SiC 极端环境电子学和薄膜/界面状态分析
- DOI:
- 发表时间:2018
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:岡田 智徳;井上 純;西山 文隆;瀬崎 洋;黒木 伸一郎;Shin-Ichiro Kuroki;黒木伸一郎
- 通讯作者:黒木伸一郎
Radiation Hardened Silicon Carbide Electronics
抗辐射碳化硅电子产品
- DOI:
- 发表时间:2018
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:K. Muraoka;S. Ishikawa;H. Sezaki;T. Maeda;T. Makino;T. Ohshima;S.-I. Kuroki
- 通讯作者:S.-I. Kuroki
Ba導入nMOSFETsに対するBTS試験およびガンマ線照射
Ba 引入的 nMOSFET 的 BTS 测试和伽马射线照射
- DOI:
- 发表时间:2017
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:梶原純;黒木伸一郎;瀬崎洋;石川誠治,前田知徳; 牧野高紘;大島武;Mikael Ostling;and Carl-Mikael Zetterling;村岡幸輔,瀬崎洋,石川誠治,前田知徳,牧野高紘,大島武,黒木伸一郎
- 通讯作者:村岡幸輔,瀬崎洋,石川誠治,前田知徳,牧野高紘,大島武,黒木伸一郎
{{
item.title }}
{{ item.translation_title }}
- DOI:
{{ item.doi }} - 发表时间:
{{ item.publish_year }} - 期刊:
- 影响因子:{{ item.factor }}
- 作者:
{{ item.authors }} - 通讯作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ journalArticles.updateTime }}
{{ item.title }}
- 作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ monograph.updateTime }}
{{ item.title }}
- 作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ sciAawards.updateTime }}
{{ item.title }}
- 作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ conferencePapers.updateTime }}
{{ item.title }}
- 作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ patent.updateTime }}
Kuroki Shin-Ichiro其他文献
Kuroki Shin-Ichiro的其他文献
{{
item.title }}
{{ item.translation_title }}
- DOI:
{{ item.doi }} - 发表时间:
{{ item.publish_year }} - 期刊:
- 影响因子:{{ item.factor }}
- 作者:
{{ item.authors }} - 通讯作者:
{{ item.author }}
{{ truncateString('Kuroki Shin-Ichiro', 18)}}的其他基金
Research on Silicon-Carbide IoT Platform for Harsh Environment Applications
适合恶劣环境应用的碳化硅物联网平台研究
- 批准号:
20H00252 - 财政年份:2020
- 资助金额:
$ 11.15万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
Research on Radiation-Hardened CMOS Integrated Circuits using Wide Bandgap SiC Semiconductor(Fostering Joint International Research)
使用宽带隙SiC半导体的抗辐射CMOS集成电路的研究(促进国际联合研究)
- 批准号:
15KK0240 - 财政年份:2016
- 资助金额:
$ 11.15万 - 项目类别:
Fund for the Promotion of Joint International Research (Fostering Joint International Research)
相似海外基金
人類のフロンティア拡大を支えるSiC極限環境エレクトロニクスの確立
建立支持人类拓展疆域的SiC极端环境电子学
- 批准号:
24H00035 - 财政年份:2024
- 资助金额:
$ 11.15万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (S)
Research on Silicon-Carbide IoT Platform for Harsh Environment Applications
适合恶劣环境应用的碳化硅物联网平台研究
- 批准号:
20H00252 - 财政年份:2020
- 资助金额:
$ 11.15万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
Research on Radiation-Hardened CMOS Integrated Circuits using Wide Bandgap SiC Semiconductor(Fostering Joint International Research)
使用宽带隙SiC半导体的抗辐射CMOS集成电路的研究(促进国际联合研究)
- 批准号:
15KK0240 - 财政年份:2016
- 资助金额:
$ 11.15万 - 项目类别:
Fund for the Promotion of Joint International Research (Fostering Joint International Research)
High radiation resistant CMOS integrated circuits using Wide-Band Gap SiC Semiconductor
使用宽带隙SiC半导体的高抗辐射CMOS集成电路
- 批准号:
25420331 - 财政年份:2013
- 资助金额:
$ 11.15万 - 项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)