Research on Silicon Carbide Harsh Environment Electronics

碳化硅恶劣环境电子研究

基本信息

  • 批准号:
    17H03253
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 11.15万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
  • 财政年份:
    2017
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2017-04-01 至 2020-03-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

项目成果

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专利数量(0)
Gamma-ray irradiation-induced mobility enhancement of 4H-SiC NMOSFETs with a Ba-silicate interface layer
具有硅酸钡界面层的 4H-SiC NMOSFET 的伽马射线辐照诱导迁移率增强
  • DOI:
    10.7567/1347-4065/ab2dab
  • 发表时间:
    2019
  • 期刊:
  • 影响因子:
    1.5
  • 作者:
    Kosuke Muraoka;Hiroshi Sezaki;Seiji Ishikawa;Tomonori Maeda;Takahiro Makino;Akinori Takeyama;Takeshi Ohshima and Shin-Ichiro Kuroki
  • 通讯作者:
    Takeshi Ohshima and Shin-Ichiro Kuroki
4H-SiC Pixel Device with UV Photodiode and MOSFETs for Radiation-Hardened UV Image Sensors
具有 UV 光电二极管和 MOSFET 的 4H-SiC 像素器件,用于抗辐射 UV 图像传感器
  • DOI:
  • 发表时间:
    2019
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Kenta Nishigaito;Tatsuya Meguro;Akinori Takeyama;Takeshi Ohshima;Yasunori Tanaka and Shin-Ichiro Kuroki
  • 通讯作者:
    Yasunori Tanaka and Shin-Ichiro Kuroki
SiC極限環境エレクトロニクスと放射光による薄膜・界面状態分析
使用同步加速器辐射进行 SiC 极端环境电子学和薄膜/界面状态分析
  • DOI:
  • 发表时间:
    2018
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    岡田 智徳;井上 純;西山 文隆;瀬崎 洋;黒木 伸一郎;Shin-Ichiro Kuroki;黒木伸一郎
  • 通讯作者:
    黒木伸一郎
Radiation Hardened Silicon Carbide Electronics
抗辐射碳化硅电子产品
  • DOI:
  • 发表时间:
    2018
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    K. Muraoka;S. Ishikawa;H. Sezaki;T. Maeda;T. Makino;T. Ohshima;S.-I. Kuroki
  • 通讯作者:
    S.-I. Kuroki
Ba導入nMOSFETsに対するBTS試験およびガンマ線照射
Ba 引入的 nMOSFET 的 BTS 测试和伽马射线照射
  • DOI:
  • 发表时间:
    2017
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    梶原純;黒木伸一郎;瀬崎洋;石川誠治,前田知徳; 牧野高紘;大島武;Mikael Ostling;and Carl-Mikael Zetterling;村岡幸輔,瀬崎洋,石川誠治,前田知徳,牧野高紘,大島武,黒木伸一郎
  • 通讯作者:
    村岡幸輔,瀬崎洋,石川誠治,前田知徳,牧野高紘,大島武,黒木伸一郎
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Research on Silicon-Carbide IoT Platform for Harsh Environment Applications
适合恶劣环境应用的碳化硅物联网平台研究
  • 批准号:
    20H00252
  • 财政年份:
    2020
  • 资助金额:
    $ 11.15万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
Research on Radiation-Hardened CMOS Integrated Circuits using Wide Bandgap SiC Semiconductor(Fostering Joint International Research)
使用宽带隙SiC半导体的抗辐射CMOS集成电路的研究(促进国际联合研究)
  • 批准号:
    15KK0240
  • 财政年份:
    2016
  • 资助金额:
    $ 11.15万
  • 项目类别:
    Fund for the Promotion of Joint International Research (Fostering Joint International Research)

相似海外基金

人類のフロンティア拡大を支えるSiC極限環境エレクトロニクスの確立
建立支持人类拓展疆域的SiC极端环境电子学
  • 批准号:
    24H00035
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    2024
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    $ 11.15万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (S)
Research on Silicon-Carbide IoT Platform for Harsh Environment Applications
适合恶劣环境应用的碳化硅物联网平台研究
  • 批准号:
    20H00252
  • 财政年份:
    2020
  • 资助金额:
    $ 11.15万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
Research on Radiation-Hardened CMOS Integrated Circuits using Wide Bandgap SiC Semiconductor(Fostering Joint International Research)
使用宽带隙SiC半导体的抗辐射CMOS集成电路的研究(促进国际联合研究)
  • 批准号:
    15KK0240
  • 财政年份:
    2016
  • 资助金额:
    $ 11.15万
  • 项目类别:
    Fund for the Promotion of Joint International Research (Fostering Joint International Research)
High radiation resistant CMOS integrated circuits using Wide-Band Gap SiC Semiconductor
使用宽带隙SiC半导体的高抗辐射CMOS集成电路
  • 批准号:
    25420331
  • 财政年份:
    2013
  • 资助金额:
    $ 11.15万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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作者:{{ showInfoDetail.author }}

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