Bent Laue Analyzer for X-ray Fluorescence Spectroscopy

用于 X 射线荧光光谱分析的 Bent Laue 分析仪

基本信息

  • 批准号:
    6692062
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 37.95万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    美国
  • 项目类别:
  • 财政年份:
    2002
  • 资助国家:
    美国
  • 起止时间:
    2002-06-01 至 2005-07-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

DESCRIPTION (provided by applicant): Our team has achieved the goals of the Phase I SBIR grant by implementing and testing our Bent Laue Analyzer design concept at a variety of x-ray energies below 15 KeV. In Phase I, we optimized, constructed and tested devices at seven different x-ray fluorescence energies between 6 and 18 KeV. Several of the devices were also successfully tested by respected XAFS experimenters at the Advanced Photon Source, and the devices have been enthusiastically received. At this point it is clear there is a significant commercial potential to our designs, even at the Phase I stage of development. We have been approached by a company with a world-wide sales presence in synchrotron radiation instrumentation who is interested in potentially marketing our analyzer technology, and particularly future integrated systems that we intend to develop. The market potential and utility for end-users will be significantly enhanced through development of turnkey systems incorporating positioners, back-end detectors, and alignment aids. In this Phase II application we propose to carry our bent Laue x-ray analyzer concept through to commercial implementation, specifically to continue to improve the performance below 6 KeV, to develop integrated multielement systems, improve manufacturing, quality control, and quality assurance capabilities, develop user documentation, and form marketing and distribution agreement(s) with an established company or companies with a world-wide sales presence. The products will provide unique and invaluable capabilities for x-ray fluorescence spectroscopy in biology, medicine, chemistry, physics, materials science, and environmental sciences.
描述(由申请人提供): 我们的团队通过在15 KeV以下的各种X射线能量下实施和测试我们的Bent Laue分析仪设计概念,实现了第一阶段SBIR赠款的目标。在第一阶段,我们在6至18 KeV之间的七种不同的X射线荧光能量下优化、构建和测试了设备。其中几个设备还成功地由高级光子源的受人尊敬的XAFS实验员进行了测试,并且这些设备受到了热烈的欢迎。在这一点上,很明显,有一个显着的商业潜力,我们的设计,即使在第一阶段的发展阶段。一家在全球范围内销售同步辐射仪器的公司与我们接洽,该公司对销售我们的分析仪技术,特别是我们打算开发的未来集成系统感兴趣。通过开发包含定位器、后端检测器和对准辅助设备的交钥匙系统,将大大提高最终用户的市场潜力和实用性。 在第二阶段应用中,我们建议将我们的弯曲劳厄X射线分析仪概念用于商业实施,特别是继续提高6 KeV以下的性能,开发集成多元素系统,提高制造,质量控制和质量保证能力,开发用户文档,并与一家或多家拥有全球销售业务的公司签订营销和分销协议。这些产品将为生物学、医学、化学、物理学、材料科学和环境科学中的X射线荧光光谱学提供独特而宝贵的功能。

项目成果

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专著数量(0)
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A Device for Selecting and Rejecting X-ray Harmonics
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    $ 37.95万
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  • 财政年份:
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  • 资助金额:
    $ 37.95万
  • 项目类别:
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