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Dynamics of implantation defects in semiconductors / Tribology of self-implanted metals

Dynamics of implantation defects in semiconductors / Tribology of self-implanted metals
半导体中注入缺陷的动力学/自注入金属的摩擦学
批准号:
238907-2001
负责人:
Schiettekatte, Francois
金额:
$1.89万
依托单位:
依托单位国家:
加拿大
项目类别:
Discovery Grants Program - Individual
财政年份:
2000
资助国家:
加拿大
项目状态:
已结题
起止时间:
2000-01-01 至 2001-12-31

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Developing methods of ultrathin films characterisation: nanocalorimetry and ion beam analysis
  • 批准号:
    238907-2009
  • 项目类别:
    Discovery Grants Program - Individual
  • 资助金额:
    $2.62万
  • 财政年份:
    2010
  • 负责人:
    Schiettekatte, Francois
  • 依托单位:
Developing methods of ultrathin films characterisation: nanocalorimetry and ion beam analysis
  • 批准号:
    238907-2009
  • 项目类别:
    Discovery Grants Program - Individual
  • 资助金额:
    $2.62万
  • 财政年份:
    2009
  • 负责人:
    Schiettekatte, Francois
  • 依托单位:
Trackling defects in semiconductors
  • 批准号:
    238907-2004
  • 项目类别:
    Discovery Grants Program - Individual
  • 资助金额:
    $2.53万
  • 财政年份:
    2008
  • 负责人:
    Schiettekatte, Francois
  • 依托单位:
Trackling defects in semiconductors
  • 批准号:
    238907-2004
  • 项目类别:
    Discovery Grants Program - Individual
  • 资助金额:
    $2.53万
  • 财政年份:
    2007
  • 负责人:
    Schiettekatte, Francois
  • 依托单位:
海外基金