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Developing methods of ultrathin films characterisation: nanocalorimetry and ion beam analysis
开发超薄膜表征方法：纳米量热法和离子束分析
基本信息
- 批准号：238907-2009
- 负责人：
- 金额：$ 2.62万
- 依托单位：
- 依托单位国家：加拿大
- 项目类别：Discovery Grants Program - Individual
- 财政年份：2010
- 资助国家：加拿大
- 起止时间：2010-01-01 至 2011-12-31
- 项目状态：已结题
- 来源：
- 关键词：
项目摘要
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项目成果
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Schiettekatte, Francois其他文献
Fast Monte Carlo for ion beam analysis simulations
- DOI：
10.1016/j.nimb.2007.11.075 - 发表时间：
2008-04-01 - 期刊：
- 影响因子：1.3
- 作者：
Schiettekatte, Francois - 通讯作者：
Schiettekatte, Francois
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Developing methods of ultrathin films characterisation: nanocalorimetry and ion beam analysis
开发超薄膜表征方法：纳米量热法和离子束分析
- 批准号：
238907-2009 - 财政年份：2009
- 资助金额：
$ 2.62万 - 项目类别：
Discovery Grants Program - Individual
Trackling defects in semiconductors
跟踪半导体缺陷
- 批准号：
238907-2004 - 财政年份：2008
- 资助金额：
$ 2.62万 - 项目类别：
Discovery Grants Program - Individual
Trackling defects in semiconductors
跟踪半导体缺陷
- 批准号：
238907-2004 - 财政年份：2007
- 资助金额：
$ 2.62万 - 项目类别：
Discovery Grants Program - Individual
Trackling defects in semiconductors
跟踪半导体缺陷
- 批准号：
238907-2004 - 财政年份：2006
- 资助金额：
$ 2.62万 - 项目类别：
Discovery Grants Program - Individual
Trackling defects in semiconductors
跟踪半导体缺陷
- 批准号：
238907-2004 - 财政年份：2005
- 资助金额：
$ 2.62万 - 项目类别：
Discovery Grants Program - Individual
Trackling defects in semiconductors
跟踪半导体缺陷
- 批准号：
238907-2004 - 财政年份：2004
- 资助金额：
$ 2.62万 - 项目类别：
Discovery Grants Program - Individual
Dynamics of implantation defects in semiconductors / Tribology of self-implanted metals
半导体中注入缺陷的动力学/自注入金属的摩擦学
- 批准号：
238907-2001 - 财政年份：2002
- 资助金额：
$ 2.62万 - 项目类别：
Discovery Grants Program - Individual
Dynamics of implantation defects in semiconductors / Tribology of self-implanted metals
半导体中注入缺陷的动力学/自注入金属的摩擦学
- 批准号：
238907-2001 - 财政年份：2001
- 资助金额：
$ 2.62万 - 项目类别：
Discovery Grants Program - Individual
Dynamics of implantation defects in semiconductors / Tribology of self-implanted metals
半导体中注入缺陷的动力学/自注入金属的摩擦学
- 批准号：
238907-2001 - 财政年份：2000
- 资助金额：
$ 2.62万 - 项目类别：
Discovery Grants Program - Individual
In situ deep level transient spectroscopy for implantation defects in semiconductors
用于半导体注入缺陷的原位深能级瞬态光谱
- 批准号：
241221-2001 - 财政年份：2000
- 资助金额：
$ 2.62万 - 项目类别：
Research Tools and Instruments - Category 1 (<$150,000)
相似国自然基金
复杂图像处理中的自由非连续问题及其水平集方法研究
- 批准号：60872130
- 批准年份：2008
- 资助金额：28.0 万元
- 项目类别：面上项目
Computational Methods for Analyzing Toponome Data
- 批准号：60601030
- 批准年份：2006
- 资助金额：17.0 万元
- 项目类别：青年科学基金项目
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3D printing glass micro-objectives for ultrathin endoscope
3D打印超薄内窥镜玻璃显微物镜
- 批准号：
10377856 - 财政年份：2022
- 资助金额：
$ 2.62万 - 项目类别：
3D printing glass micro-objectives for ultrathin endoscope
3D打印超薄内窥镜玻璃显微物镜
- 批准号：
10544780 - 财政年份：2022
- 资助金额：
$ 2.62万 - 项目类别：
High-speed Deep Brain Imaging and Modulation with Ultrathin Minimally Invasive Probes
使用超薄微创探头进行高速深部脑成像和调制
- 批准号：
9146348 - 财政年份：2015
- 资助金额：
$ 2.62万 - 项目类别：
High-speed Deep Brain Imaging and Modulation with Ultrathin Minimally Invasive Probes
使用超薄微创探头进行高速深部脑成像和调制
- 批准号：
9056202 - 财政年份：2015
- 资助金额：
$ 2.62万 - 项目类别：
High-speed Deep Brain Imaging and Modulation with Ultrathin Minimally Invasive Probes
使用超薄微创探头进行高速深部脑成像和调制
- 批准号：
9355299 - 财政年份：2015
- 资助金额：
$ 2.62万 - 项目类别：
Developing methods of ultrathin films characterisation: nanocalorimetry and ion beam analysis
开发超薄膜表征方法：纳米量热法和离子束分析
- 批准号：
238907-2009 - 财政年份：2013
- 资助金额：
$ 2.62万 - 项目类别：
Discovery Grants Program - Individual
Developing methods of ultrathin films characterisation: nanocalorimetry and ion beam analysis
开发超薄膜表征方法：纳米量热法和离子束分析
- 批准号：
238907-2009 - 财政年份：2012
- 资助金额：
$ 2.62万 - 项目类别：
Discovery Grants Program - Individual
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开发超薄膜表征方法：纳米量热法和离子束分析
- 批准号：
238907-2009 - 财政年份：2011
- 资助金额：
$ 2.62万 - 项目类别：
Discovery Grants Program - Individual
CORRELATING LARGE-SCALE SERIAL EM FROM ULTRATHIN ATLUM SECTIONS AND SERIAL EMT
将超薄 Atlum 部分的大规模串行 EM 与串行 EMT 关联起来
- 批准号：
8169626 - 财政年份：2010
- 资助金额：
$ 2.62万 - 项目类别：
CORRELATING LARGE-SCALE SERIAL EM FROM ULTRATHIN ATLUM SECTIONS AND SERIAL E
将超薄 ATLUM 部分的大规模串行 EM 与串行 E 关联起来
- 批准号：
7957637 - 财政年份：2009
- 资助金额：
$ 2.62万 - 项目类别：