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Built-in self-test and fault diagnosis for VLSI and field programmable logic devices
适用于 VLSI 和现场可编程逻辑器件的内置自检和故障诊断
基本信息
- 批准号：138642-2000
- 负责人：
- 金额：$ 1.69万
- 依托单位：
- 依托单位国家：加拿大
- 项目类别：Discovery Grants Program - Individual
- 财政年份：2002
- 资助国家：加拿大
- 起止时间：2002-01-01 至 2003-12-31
- 项目状态：已结题
- 来源：
- 关键词：
项目摘要
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项目成果
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Sun, Xiaoling其他文献
A note on semidefinite relaxation for 0-1 quadratic knapsack problems
关于0-1二次背包问题半定松弛的注记
- DOI：
10.1080/10556788.2011.627586 - 发表时间：
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概率约束二次规划的拉格朗日分解和混合整数二次规划重构
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Design and Preparation of Polyimide/TiO(2)@MoS(2) Nanofibers by Hydrothermal Synthesis and Their Photocatalytic Performance.
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吲哚启动防御信号并增加茶树的食草动物抵抗力
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- 作者：
Ye, Meng;Liu, Miaomiao;Sun, Xiaoling - 通讯作者：
Sun, Xiaoling
Sun, Xiaoling的其他文献
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{{ truncateString('Sun, Xiaoling', 18)}}的其他基金
Built-in self-test and fault diagnosis for VLSI and field programmable logic devices
适用于 VLSI 和现场可编程逻辑器件的内置自检和故障诊断
- 批准号：
138642-2000 - 财政年份：2004
- 资助金额：
$ 1.69万 - 项目类别：
Discovery Grants Program - Individual
Built-in self-test and fault diagnosis for VLSI and field programmable logic devices
适用于 VLSI 和现场可编程逻辑器件的内置自检和故障诊断
- 批准号：
138642-2000 - 财政年份：2003
- 资助金额：
$ 1.69万 - 项目类别：
Discovery Grants Program - Individual
Built-in self-test and fault diagnosis for VLSI and field programmable logic devices
适用于 VLSI 和现场可编程逻辑器件的内置自检和故障诊断
- 批准号：
138642-2000 - 财政年份：2001
- 资助金额：
$ 1.69万 - 项目类别：
Discovery Grants Program - Individual
Built-in self-test and fault diagnosis for VLSI and field programmable logic devices
适用于 VLSI 和现场可编程逻辑器件的内置自检和故障诊断
- 批准号：
138642-2000 - 财政年份：2000
- 资助金额：
$ 1.69万 - 项目类别：
Discovery Grants Program - Individual
Development and analysis of techniques for built-in-self-test and fault diagnosis
内置自测试和故障诊断技术的开发和分析
- 批准号：
138642-1996 - 财政年份：1999
- 资助金额：
$ 1.69万 - 项目类别：
Discovery Grants Program - Individual
Development and analysis of techniques for built-in-self-test and fault diagnosis
内置自测试和故障诊断技术的开发和分析
- 批准号：
138642-1996 - 财政年份：1998
- 资助金额：
$ 1.69万 - 项目类别：
Discovery Grants Program - Individual
Development and analysis of techniques for built-in-self-test and fault diagnosis
内置自测试和故障诊断技术的开发和分析
- 批准号：
138642-1996 - 财政年份：1997
- 资助金额：
$ 1.69万 - 项目类别：
Discovery Grants Program - Individual
Development and analysis of techniques for built-in-self-test and fault diagnosis
内置自测试和故障诊断技术的开发和分析
- 批准号：
138642-1996 - 财政年份：1996
- 资助金额：
$ 1.69万 - 项目类别：
Discovery Grants Program - Individual
Development and analysis of techniques for built-in-self-test (BIST)
内置自测试 (BIST) 技术的开发和分析
- 批准号：
138642-1993 - 财政年份：1995
- 资助金额：
$ 1.69万 - 项目类别：
Discovery Grants Program - Individual
Development and analysis of techniques for built-in-self-test (BIST)
内置自测试 (BIST) 技术的开发和分析
- 批准号：
138642-1993 - 财政年份：1994
- 资助金额：
$ 1.69万 - 项目类别：
Discovery Grants Program - Individual
相似国自然基金
Fibered纽结的自同胚、Floer同调与4维亏格
- 批准号：12301086
- 批准年份：2023
- 资助金额：30.00 万元
- 项目类别：青年科学基金项目
Self-DNA介导的CD4+组织驻留记忆T细胞（Trm）分化异常在狼疮肾炎发病中的作用及机制研究
- 批准号：82371813
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- 批准号：32302161
- 批准年份：2023
- 资助金额：30 万元
- 项目类别：青年科学基金项目
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- 批准号：
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- 批准号：32001001
- 批准年份：2020
- 资助金额：16.0 万元
- 项目类别：青年科学基金项目
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- 批准号：11971153
- 批准年份：2019
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- 项目类别：面上项目
新型代谢基因特征簇作为乳腺癌干细胞生物标志物及其靶向的研究
- 批准号：31900515
- 批准年份：2019
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- 批准号：31900514
- 批准年份：2019
- 资助金额：25.0 万元
- 项目类别：青年科学基金项目
Self-shrinkers的刚性及相关问题
- 批准号：
- 批准年份：2019
- 资助金额：10.0 万元
- 项目类别：省市级项目
微环境中缝隙连接对果蝇神经干细胞自我更新与分化的调控机制
- 批准号：31771510
- 批准年份：2017
- 资助金额：25.0 万元
- 项目类别：面上项目
相似海外基金
EAGER: Storage-Based Logic Built-In Self-Test with Magnified Test Data
EAGER：基于存储的逻辑内置自测试，具有放大的测试数据
- 批准号：
2041649 - 财政年份：2020
- 资助金额：
$ 1.69万 - 项目类别：
Standard Grant
Fault-based Built-In Self Test schemes for AMS System LSI
AMS 系统 LSI 基于故障的内置自检方案
- 批准号：
18K11222 - 财政年份：2018
- 资助金额：
$ 1.69万 - 项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
I-Corps: Novel Smart Meters with Built-in Self-Test and Hardware Security
I-Corps：具有内置自检和硬件安全功能的新型智能电表
- 批准号：
1646723 - 财政年份：2016
- 资助金额：
$ 1.69万 - 项目类别：
Standard Grant
SHF: Small: Rapid Development of Adaptable RF Transceivers for IoT Applications via Built-in Self-Test and Calibration
SHF：小型：通过内置自测试和校准快速开发适用于物联网应用的适应性射频收发器
- 批准号：
1617562 - 财政年份：2016
- 资助金额：
$ 1.69万 - 项目类别：
Standard Grant
Research on Built-in Self-Test to Enhance LSI Reliability through its Lifecycle
增强LSI全生命周期可靠性的内置自测试研究
- 批准号：
25280015 - 财政年份：2013
- 资助金额：
$ 1.69万 - 项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
Reliability Monitoring and Manging Built-In- Self Test (RM-BIST)
可靠性监控和管理内置自测试 (RM-BIST)
- 批准号：
216338085 - 财政年份：2012
- 资助金额：
$ 1.69万 - 项目类别：
Research Grants
SHF: Small: Collaborative Research: Integrated Verification, Built-in Self-test, and Tuning for Digitally-Intensive Analog Systems
SHF：小型：协作研究：集成验证、内置自测试和数字密集型模拟系统的调整
- 批准号：
1117515 - 财政年份：2011
- 资助金额：
$ 1.69万 - 项目类别：
Standard Grant
SHF: Small: Collaborative Research: Integrated Verification, Built-in Self-Test and Tuning for Digitally-Intensive Analog Systems
SHF：小型：协作研究：数字密集型模拟系统的集成验证、内置自测试和调整
- 批准号：
1117660 - 财政年份：2011
- 资助金额：
$ 1.69万 - 项目类别：
Standard Grant
GOALI: A Machine-Learning Approach to Built-In Self-Test of Mixed-Signal/RF Circuits
GOALI：混合信号/射频电路内置自测试的机器学习方法
- 批准号：
0622081 - 财政年份：2006
- 资助金额：
$ 1.69万 - 项目类别：
Standard Grant
Built-in self-test for system-on-chip
片上系统内置自测试
- 批准号：
317015-2005 - 财政年份：2006
- 资助金额：
$ 1.69万 - 项目类别：
Alexander Graham Bell Canada Graduate Scholarships - Doctoral