Fault-based Built-In Self Test schemes for AMS System LSI
Fault-based Built-In Self Test schemes for AMS System LSI
AMS 系统 LSI 基于故障的内置自检方案
批准号：
18K11222
负责人：
Tachibana Masayoshi
金额：
$2.75万
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份：
2018
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2018-04-01 至 2021-03-31
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バンドギャップ基準電源回路を対象としたBIST手法の評価
带隙基准电源电路的BIST方法评估
带隙基准电源电路的BIST方法评估
DOI：
--
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
--
作者：
[橘 昌良, 猪岡 柚香]
通讯作者：
猪岡 柚香
Nauta OTAを用いた二次ΔΣ変調回路の設計と評価
使用 Nauta OTA 设计和评估二阶 ΔΣ 调制电路
使用 Nauta OTA 设计和评估二阶 ΔΣ 调制电路
DOI：
--
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
--
作者：
[橘 昌良, 上村 大輔]
通讯作者：
上村 大輔
DOI：
10.1587/elex.15.20180175
发表时间：
2018-04
期刊：
IEICE Electron. Express
影响因子：
--
作者：
[C. Wannaboon;N. Jiteurtragool;W. San-Um;M. Tachibana]
通讯作者：
C. Wannaboon;N. Jiteurtragool;W. San-Um;M. Tachibana
バンドギャップ基準電源回路を対象としたＢＩＳＴ手法の検討
带隙基准电源电路BIST方法的研究
带隙基准电源电路BIST方法的研究
DOI：
--
发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
作者：
[猪岡 柚香, 橘 昌良]
通讯作者：
橘 昌良
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