A Supply Current Test Method for Bridging Faults in CMOS Microprocessor Based Circuits
A Supply Current Test Method for Bridging Faults in CMOS Microprocessor Based Circuits
复制标题
一种桥接 CMOS 微处理器电路故障的电源电流测试方法
DOI：
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发表时间：
2003
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M.Hashizume
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Niwat Thepvilojanapong;Yoshito Tobe;Kaoru Sezaki;N.Togawa et al.;M.Hashizume
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测试互连：引脚邻接方法
DOI：
10.1109/etc.1993.246596
发表时间：
1993
期刊：
Proceedings ETC 93 Third European Test Conference
影响因子：
--
作者：
D. McBean;W. Moore
通讯作者：
W. Moore
基于边界扫描的系统测试和诊断框架
DOI：
10.1109/test.1992.527927
发表时间：
1992
期刊：
Proceedings International Test Conference 1992
影响因子：
--
作者：
N. Jarwala;P. Stiling;E. Tammaru;C. W. Yau
通讯作者：
C. W. Yau
影响因子：
3.7
作者：
W. Kautz
通讯作者：
W. Kautz
通过并发采样增强电路板功能自检
DOI：
10.1109/test.1991.519727
发表时间：
1991
期刊：
1991, Proceedings. International Test Conference
影响因子：
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作者：
K. Wagner;T. Williams
通讯作者：
T. Williams
使用固定测试装置检测桥接故障
DOI：
10.1109/test.1988.207864
发表时间：
1988
期刊：
International Test Conference 1988 Proceeding@m_New Frontiers in Testing
影响因子：
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作者：
S. Millman;E. McCluskey
通讯作者：
E. McCluskey