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Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop

Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop
分析场发射扫描电子显微镜
批准号:
231259350
负责人:
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Major Research Instrumentation
财政年份:
2012
资助国家:
德国
项目状态:
未结题
起止时间:
2011-12-31 至 --

项目摘要

项目成果

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中文摘要
翻译
“在Verbindung MIT和能量分散的RöntgenmikroAnalyst(REM/EDX)中的数据是由来自信息的变化和Anschaulichkeit Ihrer Ergebnisse Seit Jahren eine Schlüsselmode der Werkstoffise Senschaften dar.这是一件非常重要的事情,因为这是一件非常重要的事情。20 Jahre Alte Rasterelektronenmikroskop is hinsichtlich seiner Ausstattung in zwichen veraltet and angesicats seiner Störaffällickeit night ht Mehr sinnvoll zu betreiben.Entsprechendes Gilt für ein约20 Jahre Altes REM des Instituts für OberfläChen-und DünschichtTechnologie der HS Wismar(IFOD)。这是一个现代的硅片漂移的探测器,也是一个REM的自适应系统,也是一个REM重要的系统。Gestiegenen Bedeutung Nano Structuierter Stoffe für die Aktiitäten der Drei Beteiligten Arbeitsgruppen and einem Schwerpenkt Be den Mineralischen Stoffen des Bauwesens Wird die Bird Beschaffung eines Analytischen Feldistions-REM MIT肖特基-发射器和低真空-Betriebmodus beantratt“。
英文摘要
„Die Rasterelektronenmikroskopie in Verbindung mit der energiedispersiven Röntgenmikroanalyse (REM/EDX) stellt angesichts des vielfältigen hohen Informationsgehalts und der Anschaulichkeit ihrer Ergebnisse seit Jahren eine Schlüsselmethode der Werkstoffwissenschaften dar. Sie wird vom federführenden Arbeitsgruppenleiter seit Beginn seiner wissenschaftlichen Tätigkeit in der Baustoffforschung und Materialprüfung eingesetzt und ist im Rahmen seiner Forschung unersetzlich. Das ihm zur Verfügung stehende über 20 Jahre alte Rasterelektronenmikroskop ist hinsichtlich seiner Ausstattung inzwischen veraltet und angesichts seiner Störanfälligkeit nicht mehr sinnvoll zu betreiben. Entsprechendes gilt für ein ca. 20 Jahre altes REM des Instituts für Oberflächen- und Dünnschichttechnologie der HS Wismar (IFOD). Das vorhandene moderne, erst vor wenigen Jahren beschaffte, am REM adaptierte EDX-System soll dagegen unter Ersatz des vom Vorgängersystem übernommenen LN2-Detektors durch einen Silicon Drift-Detektor an dem als Ersatzbeschaffungsmaßnahme beantragten REM weitergenutzt werden. Angesichts der gestiegenen Bedeutung nanostrukturierter Stoffe für die Aktivitäten der drei beteiligten Arbeitsgruppen und einem Schwerpunkt bei den mineralischen Stoffen des Bauwesens wird die Beschaffung eines analytischen Feldemissions-REM mit Schottky-Emitter und Low Vacuum-Betriebsmodus beantragt.“
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会议论文
DOI: 10.1515/adms-2016-0001
发表时间: 2016-03-01
期刊: ADVANCES IN MATERIALS SCIENCE
影响因子: 1.3
作者: [Rokosz, K., Hryniewicz, T., Malorny, W.]
通讯作者: Malorny, W.
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