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Hochauflösende Phasenkontrast-Elektronenmikroskopie mit Hilfe einer elektrostatischen Phasenplatte

Hochauflösende Phasenkontrast-Elektronenmikroskopie mit Hilfe einer elektrostatischen Phasenplatte
使用静电相位板的高分辨率相差电子显微镜
批准号:
25473870
负责人:
Professorin Dr. Dagmar Gerthsen
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Research Grants
财政年份:
2006
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
2005-12-31 至 2016-12-31

项目摘要

项目成果

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中文摘要
翻译
在DER传输中,电子显微镜(TEM)是一种新的传输方式,它的目的是为了满足用户的需求。它是一种透明的电子产品,它的目的是为了更好地满足人们的需求。我是Allgmeinen erscheinen solche Objekte Daher MIT sehr geringem Bildkontrast。在世界上最重要的一件事就是在世界范围内完成这项工作,这是一项非常重要的工作。在许可证中,1935年发生了一件令人震惊的事情。在过去的几年里,我一直在努力解决这一技术问题。Ein Vorschlag für die Realisierung einer Einer Einer Electronics Starischen PhasenPlatte geht auf Boersch(1947)zurück.他说:“这是一件非常重要的事情,因为这是一件非常重要的事情。在现实的布伦内本,L死于经济上的机会。在Vorarbeiten zu diesem projekt ist es un s glungen,erstmals eine eine geeignete e ignete e g e在安格里夫的基因组中,所有的设计和设计都是从设计和设计的角度出发的。从今天起,我将在新的一段时间内完成这项工作--这是一项现实的工作,它将为您带来更好的体验。这是一种物质智慧的本土化的生物现象。
英文摘要
In der Transmissions-Elektronenmikroskopie (TEM) sind viele der interessantesten Objekte sogenannte ¿schwache Phasenobjekte¿. Sie sind praktisch transparent für Elektronen und erzeugen Objektkontrast im Bild alleine durch eine geringe Phasenverschiebung der transmittierten Elektronenwelle. Im Allgemeinen erscheinen solche Objekte daher mit sehr geringem Bildkontrast. Eine Möglichkeit zur Realisierung eines stärkeren Objektkontrastes besteht in der Verwendung einer Phasenplatte, welche die relative Phase von gestreuten und ungestreuten Elektronen um 90¿ verschiebt. In der Lichtmikroskopie wird diese Abbildungsart als ¿Phasenkontrast¿-Verfahren bereits seit 1935 angewendet. In der TEM wurden Phasenplatten jedoch auf Grund technischer Probleme bisher kaum untersucht und noch nie in der Forschung eingesetzt. Ein Vorschlag für die Realisierung einer elektrostatischen Phasenplatte geht auf Boersch (1947) zurück. Die Boersch-Phasenplatte beruht darauf, dass die Phase des ungestreuten Zentralstrahls durch das Feld einer elektrostatischen Einzellinse verschoben wird. Dies lässt sich elektronenoptisch am einfachsten in der hinteren Brennebene des Objektivs realisieren. In Vorarbeiten zu diesem Projekt ist es uns gelungen, erstmals eine geeignete elektrostatische Mikrolinse zu bauen und damit die Phase des ungestreuten Zentralstrahls zu beeinflussen. Im Rahmen dieses Projektes soll nun das Design und die Herstellung der Boersch-Phasenplatte mit Hilfe der Nanostrukturierung optimiert und die exakte Justierung im Elektronenmikroskop in Angriff genommen werden. Durch diese Arbeiten wird ein neuer Phasenkontrast-Abbildungsmodus im Transmissions-Elektronenmikroskop realisiert, der in Zukunft eine optimierte Kontrastübertragung bei der Abbildung schwacher Phasenobjekte ermöglicht. Das auf diese Weise verbesserte Signal wird eine Vielzahl von neuen Bildverarbeitungs- und 3D-Rekonstruktionsmöglichkeiten sowohl in der hochauflösenden Kryo-Mikroskopie an nativen biologischen Proben wie auch an materialwissenschaftlichen Proben ermöglichen.
期刊论文(8)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
DOI: 10.1017/s1431927612001560
发表时间: 2012-10-01
期刊: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS
影响因子: 2.8
作者: [Hettler, Simon, Gamm, Bjoern, Gerthsen, Dagmar]
通讯作者: Gerthsen, Dagmar
DOI: 10.1088/1367-2630/18/5/053005
发表时间: 2016-05-06
期刊: NEW JOURNAL OF PHYSICS
影响因子: 3.3
作者: [Hettler, S., Dries, M., Gerthsen, D.]
通讯作者: Gerthsen, D.
Multislice algorithms revisited: solving the Schrödinger equation numerically for imaging with electrons.
重温多层算法:数值求解薛定谔方程以进行电子成像
DOI: 10.1016/j.ultramic.2014.12.008
发表时间: 2015
期刊: Ultramicroscopy
影响因子: 2.2
作者: [C. Wacker, R.R.Schröder]
通讯作者: R.R.Schröder
Application of Zach Phase Plates for Phase-Contrast Transmission Electron Microscopy: Status and Future Experiments
Zach 相位板在相衬透射电子显微镜中的应用:现状和未来实验
DOI: 10.1017/s1431927614002797
发表时间: 2014
期刊: Microscopy and Microanalysis
影响因子: 2.8
作者: [S. Hettler, J. Wagner, M. Dries, M. Oster, R. R. Schröder, D. Gerthsen]
通讯作者: D. Gerthsen
Phase contrast in transmission electron microscopy based on thin-film phase plates fabricated from metallic glasses
High-performance mixed-conducting membranes with nanoscaled functional layers
Scanning transmission electron microscopy at low electron energies: basic principles, modelling and quantification
Nanostructured lonic Materials: Impact on Properties and Performance
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